H、L、PCB XRF-2020镀层测厚仪器韩国先锋

XRF-2020镀层测厚仪韩国先锋

标牌：Micro Pioneer

货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2000测厚仪H型:测量样品高度不超过12cm

XRF-2000测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000测厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm

XRF-2000测厚仪韩国微先锋三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

韩国Micro Pioneer测厚仪型号XRF-2000已升级为XRF-2020

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测,方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。

XRF-2000测厚仪韩国微先锋

可用于测量工件、PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积; 测量范围：0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量

XRF-2000测厚仪韩国微先锋测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

XRF-2000测厚仪韩国微先锋的特征：

可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

XRF-2000测厚仪韩国微先锋仪器系统结构：

测量部分的结构：用于照射（激发）的X射线是采用由上往下照射方式，用准直器来确定X射线的光束大小。
样品的观察是利用与照射用的X射线同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X射线的光束大小来决定测量面积，zui小可测量面积是40umф。

XRF-2000测厚仪韩国微先锋操作部分：Excel和Word是标准配置，利用这些软件，我们可以简单快速地进行测量数据的统计处理及测量结果报告书的编辑和打印。

XRF-2000测厚仪韩国微先锋

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。

如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材

多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材

合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材

XRF-2000测厚仪检测范围

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

XRF-2020镀层测厚仪韩国先锋