X荧光测硫仪DM1250 X射线荧光光谱仪(XRF)

DM1250  X荧光测硫仪

用于水泥、煤、碳黑等固

体材料中SO3的浓度测量

最快30秒给出结果

采用

能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术

低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片

触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等

符合标准GB/T176  JB/T11145  JC/T1085

X荧光测硫仪DM1250 X射线荧光光谱仪(XRF)概述

DM1250 X荧光测硫仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的一种主要用于水泥企业的X荧光测硫仪。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术、小型X光管做激发源、薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统和硬质样品比例法，从而达到很高的准确度。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在30秒内测出生料、熟料或水泥中SO3的浓度。

DM1250 X荧光测硫仪的2021款除保持了原有DM1240的优点外，还进行了以下重大改进：

(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。

(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。

(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。

(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。

(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器。

DM1250 X荧光测硫仪的2021款的推出是本公司实现.

X荧光测硫仪DM1250 X射线荧光光谱仪(XRF)适用范围

主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中SO3的浓度测量，并通过测量生料中SO3的浓度来控制熟料的质量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号,形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。

除水泥工业外,也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体和粉末样品中SO3的浓度测量。

特点

快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出浓度结果。

高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，准确度。

向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。

长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，长期稳定性。

环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。

使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可,真正实现一键操作。

高可靠性––一体化设计,集成化程度高,环境适应能力强,抗干扰能力强,可靠性高。

数据传存––可存储海量数据,支持掉电后保持数据,并可随时查看.并可将存储数据传输到PC机。

高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半.

校准

X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式(即校准曲线)为:C＝D＋EIC＋FIC 2                                                                

(1)式中，IC=f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是:用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定(1)式的系数

主要技术指标