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KB-50 海向快速温变试验箱 性能测试箱半导体

参考价 ¥ 20000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 上海海向仪器设备厂
  • 品牌 HAIXIAGNYQ/海向
  • 型号 KB-50
  • 产地 上海市奉贤区北环路18号
  • 厂商性质 生产厂家
  • 更新时间 2024/4/26 9:07:20
  • 访问次数 424

联系方式:刘经理查看联系方式

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


上海海向仪器设备厂是从事实验设备的研制、生产为一体的实验室仪器设备研发企业。


生产各类适用于实验室、高校、电子、科教、食品、生物、新能源、新材料、半导体、碳中和、化工,汽车零部件等各大行业的标准及非标定制设备。


主系列产品如下:真空干燥箱、高温真空烘箱、鼓风干燥箱、高温烘箱、恒温恒湿箱、立式低温试验箱、高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、换气转盘老化试验箱、生化/霉菌培养箱、恒温恒湿培养箱、光照/人工气候培养箱、二氧化碳培养箱、三气培养箱、厌氧培养箱、恒温摇床、盐雾试验箱、生物安全柜、振动台、低温水槽、高低温循环器、药品稳定性试验箱、冷热冲击试验箱、电炉等各系列箱体设备,


实力品牌厂家,上海海向坐落于中国经济活跃的长三角经济圈,是专业的控温控湿及自动化解决方案供应商,我们拥有完整、科学的质量管理体系。公司经过多年努力,自强不息,厚德载物。实力和产品质量获得业界的认可。产品不仅广泛应用于国内市场,而且远销国际市场,并以质量稳定,售后无忧,快速解决问题获得客户的好评。


欢迎各界朋友莅临上海海向仪器设备厂参观、指导和业务洽谈。


高温真空干燥箱,高温烘箱,鼓风干燥箱,二氧化碳培养箱、真空干燥箱、无氧烘箱、光照/人工气候箱、恒温恒湿箱、高低温试验箱,非标定制厂家直销

产地类别 国产 价格区间 1万-2万
应用领域 化工,电子,航天,汽车,综合 内胆尺寸 360*350*400mm?(宽*深*高)
温度范围 -40℃~150℃ 降温速度 6℃/min
电源电压 220V/50HZ

一、产品概述:

该设备适用于学校,工厂,军工,科研单位,实验室、高校等单位,来检测各种电子元气件在高温,低温或高低温交替环境下的各项性能指标、贮存和使用的适应性。

.

二、技术参数:

型号/名称

KB-50快温变试验箱

内胆尺寸

360*350*400mm (**)

温度范围

40℃150℃

温度波动度

±0.5℃

温度均匀度

±1℃

降温速度

6/min

电源电压

220V/50HZ

 

海向快速温变试验箱 性能测试箱半导体

三、箱体结构:

l  箱体造型美观大方,采用数控机床加工成型,并采用无反作用把手,操作简便。

l  箱体内胆采用高级不锈钢(SUS304)镜面板,箱体采用冷轧钢板静电喷塑,增加了外观质感和洁净度。

l  大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配有测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。(孔径或孔数须增加定货时说明)。机器底部采用高品质可固定式PU活动轮。

 

四、控制系统:

l  7寸可程式彩色触摸控制器。

l  采用大屏触摸屏模式荧幕画面、荧幕操作简单、程式编辑容易。

l  控器操作界面设中英文可供选择、即使运转曲线图可由屏幕显示。

l  具有100组程式1000999循环步骤的容量、每段时间设定值为99小时59分钟。

l  资料及试验条件输入后、控制器具有荧屏锁定功能、避免人为触摸而停机。

l  具有PID自动演算功能、可将温度变化条件立即修正、使温度控制更为精确稳定。

l  具有RS-232RS-485通讯界面、可在电脑上设计程式、监控试验过程并执行开关机功能。

l  可连接打印机或485通讯接口、用电脑显示、并打印温度和时间曲线、为试验过程数据储存于回放提供有力保证。

 

五、制冷系统:

l  制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。

l  冷冻系统采用单机低温回路系统设计。

l  采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温湿度分布均匀。

l  风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。

l  升温、降温独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。

 

六、符合标准:

l  GB-2423.1-89IEC68-2-1)试验 A:低温试验方法。

l  GB-2423.2-89IEC68-2-2)试验 B:高温试验方法。

l  GJB360.8-87MIL-STD-202F)高温寿命试验。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

l  GB/T 2423.2-2008 试验 B《高温试验方法》

l  GB10586-89 低温试验箱技术条件

l  GB/T10592-89 高低温试验箱技术条件

l  GB10592-89 高低温试验箱技术条件

l  GB11158 高温试验箱技术条件

l  GB2423.1-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A:低温试验方法

l  GB2423.2-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A:高温试验方法

l  IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法

l  IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法

海向快速温变试验箱 性能测试箱半导体



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