JEM-2100F 二手日本电子JOEL透射电子显微镜

JOEL JEM-2100F是一款由日本电子（JEOL）公司生产的透射电子显微镜。以下是一些可能的技术参数，但请注意这些信息可能不完整或不准确，建议您进一步参考JEOL网站或联系他们的客户支持团队以获取更确切的信息：

1.分辨率：高达0.14纳米

2.加速电压：100kV或200kV可选

3.极限放大倍数：高达1,500,000倍

4.像差校正：配备球差校正装置，提高分辨率和像质

5.设备控制：电脑辅助控制系统

6.显微镜列管：搭载热发射式FEG（Field Emission Gun）电子源

7.高分辨衍射：配备SAED（Selected Area Electron Diffraction）系统

8.多种模式：透射电子显微镜模式（TEM）、扫描透射电子显微镜模式（STEM）和高分辨透射电子显微镜模式（HRTEM）等

9.操作系统：配备简便易用的操作界面和图像处理软件

JEM-2100F 简介

JEM-2100F 是日本电子生产的一款场发射高分辨透射电子显微镜，其工作电压是 200KV，点分辨率 0.23nm，线分辨率 0.10nm，附带有 STEM 探头和 EDAX ELite 能谱仪，广泛应用于材料纳米尺度的显微形貌、晶体结构和元素组成研究。