XL80 雷尼绍高分辨率激光校准仪激光干涉仪

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雷尼绍高分辨率激光校准仪激光干涉仪

特性与优点
激光稳频精度通过热控制技术将激光管的长度变化控制在几纳米的范围内，使精度在3年内保持在±0.05 ppm（百万分之一）。
线性测量精度在整个环境范围内，即在0 摄氏度 - 40 摄氏度（32 华氏度 - 104 华氏度）和650 mbar - 1150 mbar的范围内，精度为±0.5 ppm。XL-80能够以高达50 kHZ的频率读取数据，线性测量速度可达到4 m/s，即使在速度下线性分辨率仍可达到1 nm。
集成式USB意味着激光系统与计算机之间无需单独的接口。
LED状态指示灯位于激光头前部，可显示激光状态和信号强度，相当于将软件屏幕上的“状态显示”功能扩展到激光头上。
灵活切换标准 (40 m) 和长 (80 m) 距离模式。
模拟I/O端口允许传输模拟信号输出和触发信号输入。
预热时间少于6分钟。
外接开关电源允许输入电压在90V - 264 V之间变化。
CARTO软件包可以进行线性、角度、回转轴、直线度和垂直度测量。但其他测量模式则需要使用LaserXL软件。

 雷尼绍设计、制造和提供激光系统已有近二十年的历史。XL-80正是多年设计和制造经验的结晶，具有正的系统性能和操作优点。

便携性和易用性

和XC-80补偿器体积小巧，这意味着套的线性测量系统只需装在个“便携箱”中，重量仅为12公斤。再加上个三脚架（装在尼龙拉链携带箱中），您就拥有了个正便携的机器测量方案。激光干涉仪和补偿器均可通过USB与计算机连接，因此无需单独的接口，也不必担心复杂的设定。

精度和动态性能

稳定的激光源和准确的环境补偿，确保了±0.5 ppm的线性测量精度。可以高达50 kHZ频率读取数据，max高线性测量速度可达4 m/s，即使在max高速度下线性分辨率仍可达1 nm。所有测量选项（不只是线性）均采用干涉法测量，可以对记录数据的精度有信心。

雷尼绍高分辨率激光校准仪激光干涉仪