GW-4040 XRF岩屑元素分析仪

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将Ｘ射线荧光分析（ＸＲＦ）用于岩屑录井是目前岩屑分析中快速便捷的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位．因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

测量内容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

使用用途：油气开采过程中的岩屑录井检测

产品特点

性能

高性能

优选进口X射线管以及高性能探测器，确保长期的稳定性以及准确度。

快响应

相对于传统的实验室化验等方式，光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。

长寿命

无需耗材，寿命最长可达5-8年，综合使用成本更低。

便携性

相对于传统类的实验室设备，我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备，方便在作业现场进行便携使用。

为了更好的让客户在野外操作，设备还需抗震和牢固，我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱，让运输更安全。

其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工，从来稳定性牢固性更好。

准确性

仪器集成了管压检测、温度检测，实时监控腔内的真空压力和温度，确保检测的精度。

真空腔内置过滤隔离装置，仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子，导致污染损坏。

内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态，提供检测的准确度。

技术指标

*具体量程可能会有细微偏差。

*工作在温度25℃和1013mbar测试数据。

技术原理

利用初级X射线光子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析；同时样品受激发以后发射某一元素的特征X射线强度跟元素在样品中的含量有关，因此可以对元素进行定量分析。

光学结构

分析仪由如下光学技术平台构成，该技术平台由X射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。X射线管发出的光直接照射在待测样品，激发待测物质中的原子，使之产生荧光，被探测器接收。通过对荧光谱线进行分析，可以分析出待测样品中的元素成分和含量。

金属元素的光谱

不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

岩屑成分

可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。

自动稳谱，消除谱峰水可载舟漂移影响，精确度达98%以上。

集成大量数据库，并实时更新，目前可以识别岩屑成分多达上百种。

应用领域

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。

产品主要用于以下场合：

● 油气钻井岩屑录井；

● 物探岩石检测等。