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化工仪器网>产品展厅>测量/计量仪器>表面测量仪器>轮廓仪>SJ5730-100 外廓尺寸测量仪

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SJ5730-100 外廓尺寸测量仪

参考价 ¥ 536000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 深圳市中图仪器股份有限公司
  • 品牌 CHOTEST/中图仪器
  • 型号 SJ5730-100
  • 产地 学苑大道1001号南山智园B1栋2楼、5楼
  • 厂商性质 生产厂家
  • 更新时间 2024/5/13 9:21:30
  • 访问次数 734

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深圳市中图仪器股份有限公司成立于2005年,致力于全尺寸链精密测量仪器及设备的研发、生产和销售。


中图仪器坚持以技术创新为发展基础,拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队,历经20年的技术积累和发展实践,研发出了基础计量仪器、常规尺寸光学测量仪器、微观尺寸光学测量仪器、大尺寸光学测量仪器、常规尺寸接触式测量仪器、微观尺寸接触式测量仪器、行业应用检测设备等全尺寸链精密仪器及设备,能为客户提供从纳米到百米的精密测量解决方案。





三坐标测量机,影像仪,闪测仪,一键式测量仪,激光干涉仪,白光干涉仪,光学轮廓仪,激光跟踪仪

产地类别 国产 产品种类 接触式轮廓仪/粗糙度仪
价格区间 面议 应用领域 环保,化工,交通,汽车,综合

中图仪器SJ5730外廓尺寸测量仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围,分辨率达到0.1nm,因此非常适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量,同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能,能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。该仪器可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数、微观轮廓度参数的测量。同时仪器还可对各种精密零件轮廓度、波纹度进行测量,对形状参数进行分析。


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性能特点

1、一次测量同时评定轮廓和粗糙度参数

超高精度衍射光学测量系统,具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,分辨率高达0.1nm,系统残差小于2nm。

2、高精度、高稳定性、高重复性:满足被测件测量精度要求

1)系统扫描轴采用特殊的超高耐磨材质复合材质摩擦片,耐磨性能优良,稳定性高,能保障系统长时间的稳定的直线度精度;

2)高精度转轴采用特殊的高刚性、低惯量、超低摩擦系数的红宝石转轴系统,确保了转动的超高灵敏度及测量精度;

3)超高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度;

4)高精度的纳米级光学转轴测量系统,保障了仪器超高的分辨率及全程纳米级粗糙度测量精度;

5)一体式拔插式碳纤维测杆、高刚性、低惯量,一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠;

3、智能化管理与软件分析系统

仪器操作界面友好,操作者易掌握仪器基本操作,使用十分简便。

1)10多年积累的实用检测软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;

2)智能化分析及记录,同批次可自动测量和分析,大幅度减少人员的操作要求及降低人员的劳动强度;

3)测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量要求;

4)非球面专用软件分析功能模块,一键式快速测量非球面光学镜片;

5)可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;

6)纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;

7)可打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录,打印格式正规、美观;检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;

8)本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。

4、智能保护系统

仪器在各个方向都有进行硬件及软件保护,能有效的保护仪器主机及测针,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤;

模块测针拔插式结构,方便更换,遇到卡针可轻松拆换测针;测量传感器带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。

5、灵活手动控制:

仪器配置了特殊分离式操作杆,操作杆在仪器操作移动时,可放置在任何位置控制操作,在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,操作杆具备左右/上下移动测针、急停、测杆上下角度摆动及速度分多级调节功能。

6、成熟的标定校准技术

仪器配置特殊的高精度标定台,通过简单的标定操作,能对仪器的参数进行误差补偿,对测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。


轴承滚道测量.jpg

轴承滚道测量


SJ5730外廓尺寸测量仪一次测量可同时评定粗糙度及轮廓参数,分析评定R参数、P参数、W参数等微观粗糙度参数及倒角、R角、直线度、位置尺寸、角度的宏观轮廓参数;成熟简单的标定,仪器自带高精度组合标定台,可对仪器的精度和测针磨损进行精确补偿。



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