X-eye SF160F/N Series 赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海赛可检测设备有限公司
- 品牌 SEC/赛可
- 型号 X-eye SF160F/N Series
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/4/22 8:12:13
- 访问次数 2673
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| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,化工,生物产业,能源,制药 |
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries简介：
1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：
搭载高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能检测设备，实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用户可通过需求选择DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。
2.X-raySimple&Easy3DCT：
1).半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备（大型PCB可进行非破坏性CT分析）
2).可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检
3).最大可实现550x650mm尺寸的产品不良检测
4).通过DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D检测，提供高分辨率，高精度的分析检测环境
5).可搭载长寿命Filament，利于用户使用便利性（可适用于量产检测）
1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：
搭载高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能检测设备，实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用户可通过需求选择DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。
2.X-raySimple&Easy3DCT：
1).半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备（大型PCB可进行非破坏性CT分析）
2).可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检
3).最大可实现550x650mm尺寸的产品不良检测
4).通过DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D检测，提供高分辨率，高精度的分析检测环境
5).可搭载长寿命Filament，利于用户使用便利性（可适用于量产检测）
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries等，欢迎咨询上海赛可，我们为您提供赛可（SEC）X-RAY检测设备的参数、价格、型号、原理等信息，赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries产地为韩国、品牌为赛可，欢迎大家咨询。
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