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化工仪器网>产品展厅>测量/计量仪器>长度计量仪器>CNC影像测量仪>EVM-3020/EV-3020 半自动影像测量仪

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EVM-3020/EV-3020 半自动影像测量仪

参考价 ¥ 50000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

联系方式:王先生查看联系方式

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


宁波怡信数字科技、宁波光量数智科技,集机器视觉、精密仪器、智能产线的研发、设计、制造及应用于一体的高新技术与服务企业,公司拥有光学、软件、精密机械、自动化控制、人工智能算法等专业的研发团队,专注于检测仪器、机器视觉与智能产线,立足于精密电子、医疗器械、光学器材、磁性材料、晶圆制造,半导体、航空船舶与汽车等精密制造加工行业。
针对各行业特性化提供有价值的解决方案让客户满意,目前我司已形成专业且成熟的理论技术到实际生产再到客户现场的丰富经验,包括精密电子、磁材行业、半导体、汽车结构件尺寸量测、装配过程等机器视觉解决方案。产品包括智能产线装备、高精度三坐标、影像测量仪、快速复合式闪测仪、高度仪、激光扫描仪、金相显微镜等高精密视觉检测设备。
   秉承对研发的持续投入,我司目前光学试验室已具备激光共焦显微检测、线激光扫描到面阵三维扫描系统的全应用和测试能力,同时拥有多轴运动控制的光学试验平台与微米级高精度光学测量平台, 擅长对各类尺寸量测和缺陷检测进行评估和制定解决方案。
结合我司自主研发的算法软硬件平台,全力打造业内设施和功能最齐全的光学测试检测室。通过不断创新与自主研发,凭借高效的管理以及精密制造流程的品质管控,为智能制造注入智慧的科技,全面为客户制造生产增效降本,提供高质量、高精度、高稳定性的测量检测设备和解决方案。

 

影像测量仪,三坐标测量机,一键式闪测仪,高度测量仪,对刀仪,显微镜,扫描仪等

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 电子/电池,航空航天,汽车及零部件

规格型号: EVM-3020

测量范围(mm)

外形尺寸(mm)

主机重量(Kg)

最大承受重量(Kg)

X

Y

Z

L

W

H

300

200

200

1350

800

1700

280

20

测量精度

光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm)

2.0+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm)

2.5+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

二维探测误差:PF2D(μm)

2.5        MPE符合JJF 1318-2011

影像测头探测误差:PFV2D(μm)

2.5        MPE符合JJF 1318-2011

 

序号

名称

规格及说明

1

主机及机台

机身主体采用高精密天然花岗岩,具有稳定的温度特性和抗时效变形能力

2

控制系统

USB网络板,保证机器的平稳安全

3

AI EASSON测量软件系统

自动版光学视觉量测软件

4

相机

130万数字高清网络相机

5

光栅尺

0.01μm绝对光栅

6

导轨

三个轴采用精密级滚珠丝杆导轨,速度有大提升,而且运作平稳

7

电机

直流伺服电机

8

镜头

怡信AI EASSON自主设计TC精密多段定倍自动变倍自动变焦远心镜头(标配同轴光)实际倍率:30-145×

9

照明系统

5环8区LED冷光源各段独立操控,256级亮度可调

10

品牌电脑

WIN7/WIN10

23.8高清

11

操作方式

232控制盒、鼠标拖运、键盘控制

环境条件及要求

影像仪室温度要求:

房间温度 (温控间)

18~22°C

温度梯度(时间)

1°C /h

温度梯度(时间)

2°C /24h

温度梯度(空间)

1°C /m

影像仪室湿度要求:

空气相对湿度

40-70%

电源要求:

电压

220V ± 10%

频率

50/60 Hz

震动

15Hz以下<0.001g

耗电量

1000VA

用电设备要求接地可靠:接地电阻小于4欧姆

AIEASSONAIEASSONeasson机身主体采用高精密天然花岗岩,具有稳定的温度特性和抗时效变形能力,保证测量的稳定性及长期使用的精度。  

所有怡信的光学影像测量仪均标配由本公司自行开发的F-1高精度全闭环自动变倍光学镜头,高性能,超低畸变,保证测量的精确度。  

高精度全闭环自动变倍光学镜头  

远心光学原理:采用平行光路径光学设计,物体影像的尺寸不会随着与镜头的距离而改变,造成透视的效果产生额外的测量误差。  

自动变倍光学远心镜头(Telecentric),怡信专业制造,主要是为纠正传统镜头的视差而特殊设计的镜头,它可以在一定的物距范围内,使得到的图像放大倍率不会随物距的变化而变化,这对被测物不在同一物面上的情况是非常重要的应用。  

 

 

 



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