SuperViewW1 白光光学轮廓度测量仪
参考价 | ¥ 960000 |
订货量 | ≥1台 |
- 公司名称 深圳市中图仪器股份有限公司
- 品牌 CHOTEST/中图仪器
- 型号 SuperViewW1
- 产地 学苑大道1001号南山智园B1栋2楼、5楼
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/4/17 20:14:17
- 访问次数 758
联系方式:罗健18928463988 查看联系方式
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
---|---|---|---|
应用领域 | 生物产业,能源,建材,交通,汽车 |
SuperViewW1白光光学轮廓度测量仪除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外,具有的测量晶圆翘曲度功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。
产品功能
1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;
2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;
3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;
5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;
6、微电子表面分析和MEMS表征。
结果组成
1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;
2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;
3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;
5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;
6、微电子表面分析和MEMS表征。
应用领域
SuperViewW1白光光学轮廓度测量仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。