高低温气流循环冲击系统ATE测试应用

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高低温气流循环冲击系统 ATE测试应用

提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 150℃ 温度测试解决方案. 高低温冲击气流仪 TS560 GPIB通讯（IEE488）兼容华峰测控, 操作简单.

高低温气流循环冲击系统 ATE测试应用

产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：

芯片、微电子器件、集成电路（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）

闪存Flash、UFS、eMMC、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件

光通讯（如：收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）

其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究

模拟IC测试系统—STS8200

产品特点：

- 主机柜由两个插件箱组成，每插件箱支持13个插槽，总共最多支持26个插槽

- 针对各类模拟，电源管理，信号链产品测试

- 全浮动，多通道的V/I源，每路16位的驱动与测量分辨率

- 具备高压或大功率的选项，单通道1KV，浮动高压源可叠加到2KV

- 具备交流源表及任意波形发生器及数字化仪，支持音频测试

- 多通道的高精度时间测量单元

- 最多32路的数字通道，并支持多种数字通讯协议

- 图形化调试工具

- 支持并行测试模式，支持乒乓模式及TWIN模式；支持分站并发测试模式

- 增加测试头，可扩展为混合信号测试系统