硅光子和PIC测试

硅光子和PIC测试

硅光子和光子集成最/全面、最快速的测试方案

LUNA提供基于光频域反射技术（OFDR）的独/特测试系统，和为现代硅光子 集成器件提供准确和快速的测试方案。

10μm空间分辨率的器件光路损耗测试

Luna的超高空间分辨率背光反射计，具备背向散射级的探测灵敏度，为光无源 器件提供前/所未有的分布式损耗分析。

一台设备即可测试器件的全部光学参数

Luna光矢量分析仪（OVA）能够通过对光无源器件的一次扫描测量，即可完成 对线性传输矩阵 (琼斯矩阵)、插入损耗 (IL)、群延时 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相关损耗 (PDL) 等关键光学参数的测量。

全新6415光器件分析仪

Luna全新的6415是一款同时具备高测量频率和高空间分辨率的背光反射计产 品，同时可提供插入损耗（IL）的透射测试和分析模式，是产线检测和品质控 制的理想选择。

应用

Ø生产测试

Ø质量控制

Ø生产问题诊断

Ø设计表征与分析

Ø验证模型并改进仿真

Ø无源光器件和模块：滤波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光栅、WSS、ROADMs等

示例：平面光波导的表征

平面光波导作为硅光子平台的关 键组成部分，对测量方法提出了 更高的挑战，包括在单位长度内 存在更大的损耗、更高的偏振相 关性等等。

Luna的扫描激光干涉技术，能够通过对器件的扫描，获得沿器件光路的 亚毫米级空间分辨率的损耗测量结果，同时也可获得更全面的其他光学参 数指标。比如对波导光栅的测量，我们能够同时获得波导光栅在时域上的 端面及尺度特性，以及在频域上的频谱响应特性。

使用Luna的分析软件，您可以区分并挑选合适的光栅反射区域，从而可 以轻松观察到TM模和TE模在频谱响应中表现出的不同偏振效应。否则， 整体频谱响应（如下图中红色曲线所示）将被很强的端面反射造成的频谱 响应所充满。

时域响应结果显示，强烈的端面反射和波导光栅反射能够被清晰 的区分和呈现。

通过时域响应能够很容易地确定光栅反射峰值，从而可仅对光栅部 分进行频谱分析（蓝色曲线）。波导的整体频谱响应如红色曲线所示。

*的硅光子和 PIC 测试解决方案

Luna*的光学测量系列产品，基于光频域反射技术（OFDR），具有业界领/先的测试动态范围、时域和频谱测试分辨率以及 测试速度。

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