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SID4 Phasics波前探测器,高分辨,紫外波段

参考价 ¥ 300000
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维尔克斯光电(www.highlightoptics.com)专业代理欧美激光器、光谱仪、光电测试分析仪器和光电元器件。凭借强力的专业技术背景和多年的行业经验,维尔克斯能够满足客户不同的应用要求,精准地为客户提供高性价比的解决方案,并保证设备及时安装、调试和故障排除。

我们提供自主开发的:微透镜阵列、分束镜、工程散射片、螺旋相位片、结构光模组、离轴抛物面镜、扫摆镜、中空回射器、太赫兹透镜、太赫兹窗口镜、分辨率板、太赫兹镜头、激光防护眼镜。

以色列Holoor公司衍射光学元件,光束整形器、高斯整平顶DOE、匀光镜、匀化器、宽带散射片、分束镜、多焦点DOE、长焦深DOE、玻璃切割模组、定制衍射元件;

德国Holoeye公司结构光DOE、激光散斑、随机点阵、定制衍射元件;

德国ADLoptica光束整形器,pishaper光纤激光平顶整形,πshaper激光整形器;

美国RPC Photonics公司螺旋相位板、微透镜阵列、工程散射片,工程漫射体,扩散片;

美国Thorlabs,Edmund离轴抛物面镜,微透镜,激光防护镜;

丹麦NILT纳米压印模板,微加工掩膜,纳米压印机,硅模板,石英母版;

 

美国NOIR激光防护眼镜,激光防护镜,激光护目镜常用型号:ARG, EC2, YG3, DBD, YG2, FG1, DBY, ND1, YLW;

德国Laservision激光护目镜,激光防护镜,激光防护玻璃,激光防护帘;

以色列DUMA公司 Spoton系列激光位置测量仪,Beamon光斑分析仪,光束分析仪,激光准直仪, Autocollimator,内调焦自准直仪,Alignmeter激光位置角度测量仪;

法国Phaseview公司M2仪,光束质量分析仪,激光轮廓仪,激光波前测量仪;

立陶宛Optogama公司红外热像仪(可替代7215红外热像仪)、红外相机、红外观察仪、4lasers镜片、晶体、扩束镜、人眼安全激光器;

美国Dataray光斑分析仪,光束分析仪,M2仪,红外光斑分析仪;

白俄罗斯Solar Laser公司SHR波长计,SHR-IR激光波长计,低重频大能量固体激光器;

加拿大Gentec功率计,能量计,太赫兹探测器;

     

美国Chroma公司滤光片、滤光片盒子、滤光片套装、FISH滤光片、窄带滤光片、拉曼滤光片;

美国Adnover公司滤光片,定制滤光片,超窄带滤光片;

德国BATOP可饱和吸收镜,SESAM,可饱和吸收耦合输出镜,共振可饱和吸收镜,可饱和吸收体SA,太赫兹聚焦镜,激光芯片,微芯激光器;

德国B.Halle公司消色差波片、超宽带消色差波片;

美国Innovation Photonics中红外聚焦镜,中红外隔离器,红外光纤,红外偏振片,光纤耦合透镜;

德国Layertec飞秒激光镜片,皮秒激光镜片、宽带镜、啁啾镜、GT干涉镜;

美国DRO,Design research optics二氧化碳镜片,ZnSe反射镜,硒化锌透镜,CO2合束镜、CO2分束镜;

美国LRO,Laser Research Optics分光镜、合束器、全反射镜、部分反射镜、金属反射镜、输出耦合镜、零相位延迟片、部分相位延迟片;

德国Femto Fiber公司布拉格光纤光栅;

 

美国Minusk隔震台,减震平台,精密隔振平台,原子力显微镜隔振台;

德国Marzhauser公司(MW)显微镜载物台,手动显微镜平移台;

英国PRIOR显微镜平台,显微镜载物台,显微镜电动平台,纳米电动平台,自动上片机,自动对焦系统;

加拿大Zaber电控平移台,线性致动器,旋转台,真空平移台,内置编码器和驱动器的位移台;

法国Piezoconcept纳米平台,纳米压电平台;

芬兰Sensapex微操作器,微操作系统;

 

加拿大Sicencetech太阳光模拟器,AA*太阳光模拟器,光伏测试系统,红外光谱仪;

美国TTI公司C995光学斩波器,光纤脉冲转换器,模拟信号收发器,O/E转换模块探测器;

美国Phase Photonics红外光谱仪,中红外光谱仪;

美国Scientech公司精密电子天平,激光功率计;

 

荷兰Anteryon CP-332/CP-544激光器,非球面镜;

德国Advanced Laser Diode Systems(ALSG)半导体皮秒激光器,可单模光纤、单光子输出;

德国Frankfurt Laser公司各类激光器及激光配件;

德国Alphalas公司激光器,可调谐波片,宽带可调波片,超快探测器UPD;

美国Photonics Industries公司(PI)纳秒激光器,皮秒激光器,高功率,高能量;

日本Oxide公司266nm激光器,波长转换器,晶体,激光组件;

立陶宛Eksma,Ekspla公司光纤激光器,超短脉冲选择器,普克尔斯盒;

 

美国Terasense太赫兹相机,太赫兹源, THz人体安检仪,超快太赫兹探测器;

德国Menlo公司飞秒光纤激光器,太赫兹时域光谱系统,飞秒激光同步激发的太赫兹光谱系统,光学频率合成器、光梳;

瑞士Rainbow Photonics太赫兹时域光谱系统(1-14THz),可调谐太赫兹源,THz有机晶体;

俄罗斯Tydex公司太赫兹光学元件、太赫兹透镜、太赫兹波片、TH分光片、TH滤光片、太赫兹衰减片、太赫兹衍射镜片,Golay Cell 高莱探测器;

西班牙NIT,德国TrinamiX,芬兰Emberion,英国Redwavelabs红外探测器。

 

俄罗斯SmarTThermoelectrics半导体制冷片,单极TEC,多极TEC热电模块;

德国Jutec耐高温手套,隔热手套,热防护服;

美国AppliedImage公司图像测试卡、ISO 测试卡 、图像质量分析软件、Bar Code条形码校正;

还代理英国Laser2000,德国Pleiger Laseroptik,立陶宛Optogama,美国Precision Laser Scanning等厂家;

 

油脂分析仪,石油分析仪,激光眼镜,光学配件

Phasics公司基于其创新的高分辨率波前传感技为客户提供全方的测量和成像解决方案,以满足激光工程师,镜片生产商和细胞生物学家的需求。

基于四波横向剪切的波前传感器的工作波长范围从紫外到远红外,典型的应用包括激光束测量和校正以及透镜测试。基于四波横向剪切的波前传感器具有高的分辨率,也为波前分析的创新应用开辟了新的道路,如等离子体密度测量或定量相位成像显微镜,如生命科学、材料检验和热成像。

法国Phasics公司拥有自主研发的波前传感器,这种仪器是基于四波横向剪切干涉技术而设计的。SID4系列波前探测器与传统的夏克-哈特曼波前探测器比较,法国Phasics波前分析仪具有高动态检测范围、消色差、高分辨率、消色差、操作简便,高灵敏度等优势。可以向波前畸变、波前相差探测以及光束质量及波前参数的测量、分析;眼科的虹膜定位以及波前像差引导等提供了完整的优秀的解决方案!PHASICS波前探测器软件界面具有易用性,能够明了的输出高分辨率的相位图和光束强度的分布图。

本文的产品主要有:适用于常用波段的SID4波前传感器;  用于红外波段的型号:SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR,  SID4-HR; 最后是深紫外波段的SID4-UVSID4 UV-HR。所有的波段都能够有适合的产品为您提供,并且有高采样点的型号和普通标准的型号等等。Phasics波前探测器,高分辨,紫外波段


法国Phasics SID4 波前传感器的特点:

SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差,强度分布,波前位相、泽尼克参数激光的M2等进行实时的测量及参数输出。

-可直接测量:消色差设计,测量前无需再次对波长校准,消色差:干涉和衍射对波长相消

-高分辨率:最多采样点可达120000个(160x120),测量稳定性高

-内部光栅横向剪切干涉,防震设计,无需隔震平台也可测试,对实验条件要求简单

-高动态范围:高达500μm

-波长范围:400-1100nm

 

SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器的特点:

Phasics公司将 SID4的测量波长范围:190nm-400nmSID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前探测器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。

-高分辨率(250x250

-通光孔径大(8.0mmx8.0mm

-覆盖紫外光谱

-灵敏度高(0.5um

-优化信噪比


SID4-HR 波前相差仪特点:

能够进行对透镜、光学系统实时的PSF(点扩散函数)、OTF(光学传递函数)、MTF(调制传递函数)以及波前像差测量和参数输出。与传统的透镜检测设备比较:干涉仪,传函仪、具有测量精度高,操作简便,参数输出方便等优势。

-曝光时间极短,保证动态物体测量

-波长范围:400-1100nm

-实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)

-高性能的相机,信噪比高,操作简单

 

SID4 NIR 波前分析仪

其主要针对1550 nm1.5um-1.6um)激光进行检测的仪器,具有分辨率高,高动态范围、高灵敏度、操作简便等优势。是红外透镜像差,光学测量和红外物体、MTFPSF以及焦距和表面质量测量的理想工具。

-高分辨率(160x120

-快速测量

-绝对测量

-对振动不敏感

-性价比高

 

SID4 UV 波前分析仪

其主要针对250-450nm激光进行检测的仪器,具有分辨率高,高动态范围、高灵敏度、操作简便等优势。适用于UV光学测试,UV激光表征(用于光刻,半导体......)和表面检测(透镜和晶圆......)光学测量和MTFPSF以及焦距测量。

-非常高的分辨率-250×250相位图

-高灵敏度 - 2 nm RMS

-经济实惠的紫外波前测量解决方案


SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前仪

拥有宽波段波前探测的特点。实时的检测3-5um以及8-14um的强度分布和波前位相等的波前信息。可以很好的应用于红外波段应用的波前检测需求。

-光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTFPSF,像差,表面质量和透镜焦距。

-光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)此型号可以提供详尽的光束特性参数:M2,像差,光束特性,光强分布等

-可实现离轴测量,可实现绝对测量,性价比高

-高分辨率(96x72,快速测量 对振动不敏感

-可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜

 

法国Phasics波前相差仪主要应用:

-光学系统质量分析:MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数光学镜头/系统质量控制

-激光光束参数测量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直径,泽尼克/勒让德系数

-生物应用:蛋白质等组织定量相位成像

-自适应光学:焦斑优化,光束整形

-热成像分析,等离子体特征分析

-元器件表面质量分析:表面质量(RMSPtVWFE),曲率半径

 

法国Phasics波前探测器参数规格对比

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夏克哈特曼和四波横向剪切干涉波前分析仪对比表

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总体而言,在空间分辨率和灵敏度而言基于剪切干涉技术的波前分析仪都比夏克哈特曼为基础的波前分析仪要更为优秀。采样点更多,准确度更高分辨率也更高。安装便捷,配套的软件功能丰富。基于傅里叶变换,将时域转换为频域分析使得其不依赖光强变化,更加的敏感,但可能不能估计光强的变化。一定条件下,它是选择作为激光质量分析,透镜质量监控,光学表面测量,以及成像的更优选择。Phasics波前探测器,高分辨,紫外波段





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