STB-A1 STB-A2 JIS-STB-A3 日本标准试块超声波探伤试块
参考价 | ¥ 650 |
订货量 | ≥1 件 |
- 公司名称 丹东征程无损检测设备有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 STB-A1 STB-A2 JIS-STB-A3
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2022/7/13 13:46:21
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产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 化工,石油,交通,综合 | 材质 | 碳钢 |
日本标准试块超声波探伤试块
1. 标准试块
标准试块简称STB试块,通常由国际有关组织,国家和工业部的技术部门、标准化组织推荐、确定和通过使用的。它们可作为探伤仪、探头性能的测定;探伤灵敏度和时间轴比例等的调整,以及缺陷尺寸的评价。但某一种试块不一定都具备这些功能,而是随应用对象不同而有所侧重,它们常常在使用目的相同的检查之间通用,其材质、形状、尺寸及使用性能也均已达到了标准化程度。例如,国际上通用的标准试块有IIW试块、IIW2试块等,我国的CS–1,CS–2,CSK–IA,CSK–IB,CSK–IC(如图2–34),日本的STB–G系列试块,美国的ASTM和ASME的标准试块,英国的BS–A2,BS–A4试块,西德DIN54120中的1#试块等等均属此列,其中有些试块可用于制作距离–波幅曲线或面积–波幅曲线。
标准试块标准试块通常是由机构制定的试块,其特性与制作要求有专门的标准规定。 标准试块通常具有规定的材质、形状、尺寸及表面状态。 标准试块用于仪器探头系统性能测试校准和检测校准,
型号:JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22、JIS-STB-A1(与IW试块相同)
JIS-STB-A2(用单探头或双探头法进行斜角探伤时,用于探伤灵敏度的调整或表示。也可用于探伤仪的综合分辨力的测定和表示)。
JIS-STB-A3(作为A1和A2试块现场用的辅助标准试块,可用于入射点的确定、时间轴的调整、时间轴原点的修正、折射角和探伤灵敏度的确定)
JIS-STB-G(用于各种调整, min探伤距离的检定等)。
V2~V8都加工有∮2平底孔,和V15-2-样用于2~15mm探伤距离下的灵敏度特性试验,反射脉冲高度在规定值t1db以内。V15-1~V15-5.6钻有p1.0~∮5.6mm平底孔,相邻孔底的西积比依次为2倍。即用于探伤灵敏度的调整。
日本标准试块超声波探伤试块