扫描热学显微镜

扫描器

3x3x1um （ ± 10%）; 10x10x2um（ ± 10%）; 50x50x3 um （ ± 10%）

zui小扫描步长

0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm

扫描类型

样品扫描式

SPM头部

AFM

STM:

30pA - 50nA, 4 p时的ARMS 噪音 （标准的前置放大器）,

10pA - 5nA, 1.5 p时的ARMS噪音 （低电流前置放大器）

剪切力

光学观察系统

数值孔径 0.1

放大倍数58x to 578x

水平视野 5,1~ 0,51mm

控制系统

SPM 控制箱

振动隔离系统

集成有被动隔离系统

如果需要也可用主动隔离系统

扫描热学显微镜操作模式：

1.合理的操作模式：

a. 扩展电阻成像：这个模式在表征半导体的应用中非常有用，因为在该模式下，我们可以利用W2C 或TiO涂层的硅悬臂来测得样品上某一点的导电率，然后和该点的表明形貌进行比较。

b.  粘附力模式：在扫描过程中，可以同时得到力－距离曲线和力的值。

c.  剪切力模式：可以用来实现SNOW系统。

d. SKM对半导体表面成分分析十分有用。

e. RM和电压刻蚀：利用这两个模式可以在纳米尺度实现机械和电压表面修饰。

2.集成测量头

在一次扫描过程中，可以同时得到4种不同的信息。

扫描器

NT-MDT提供一套用于校正的标准光栅（6片），用其进行扫描器的校正和针尖质量的控制。。

样品大小

大样品也可以进行测量。

光学观测系统

多样的光学观测系统配置可以*客户的需求。

针尖与样品的驱近

1. 驱近系统的机械设计可使得经过几次驱近之后仍然能获得相同的检测区域。扫描位移大约为500nm，这个特点可以让您在几周内仍然能够研究相同的样品区域。

2. 在完成驱近之后，可以对所要检测的区域进行自动扫描，因此实验人员只需很短的时间便可以在SPM上获得检测结果。

3. 允许手动驱近。

电子学

每个轴（X,Y和Z）通过2个16位DAC来实现22位的扫描精度，再加上极低的系统噪音，所以Solver使用50mm的扫描器也能实现原子级分辨率。

计算机

我们的显微镜可以在任何兼容计算机机上进行操作。如果您不想购买额外的计算机，那么您还可以将这台用于SPM的计算机用于其他用途。

软件

多样的图像处理方法；

图像处理软件可以在网站免费下载；

可以处理DI,PSI, Topometrix和其他SPM厂家的数据文件样本；

可以根据用户需要来定制软件。

隔震系统

在通常的实验室中，不需要增加额外的隔震系统（在通常的实验室环境下就可以得到原子级图像）。

其他优点

钛合金结构和*的SPM测量系统设计提供了zui低的热漂移，让您可以打开系统之后马上就可以开始测量了。

在这方面，NT-MDT尽全力满足客户的期望。