菲希尔镀层测厚仪纳米X荧光射线

 菲希尔镀层测厚仪纳米X荧光射线

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台

 菲希尔镀层测厚仪纳米X荧光射线

X射线荧光分析法 (XRFA)：
能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能*胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。
X射线荧光法（XRFA）的优点：
快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）
分析固态，粉末或液态样品
有害物痕量分析
高精度和准确度
十分广泛的应用
准确测量基材是磁性和导电的材料
样品制备非常简单
测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品
无耗品，物超所值