产品介绍

此系统与手套箱无缝整合，为分析敏感材料和组件提供了理想的环境。

PD-QE 结合优良科技与使用者友善的设计，让研究人员和工程师能够探索光谱学的新领域，并释放光电探测器的全部潜力。

光电探测器基本特性分析设备的可用性对于这些组件的开发者和用户都至关重要。

　不同的应用领域，例如光电二极管制造商、光纤通讯系统开发商、太阳能电池板制造商、大学和研究机构的实验室以及质量控管公司，在功能方面可能有其他特定需求，包括所需的检测范围、分辨率或对特定环境条件的适应性。

传统的量子效率系统在新型光电探测器的测试中面临许多挑战。 例如：

　　1.偏置电压无法超过12V：传统量子效率系统使用锁相放大器，其承受直流电压无法过大，因此在一般的量子效率测试仪，电偏压无法施加超过12V。

　　2.无法做噪声频率分析。

　　3.无法直接测得NEP与D*。

光焱科技针对新世代的光电探测器（PD）提供了完整解决方案，命名为PD-QE。

特色

1.高精度测量：

　PD-QE提供高精度的EQE和IV曲线测量，光源不稳定度低于1%，确保测量结果的准确性和一致性，满足客户对高精度测量的期望。

2.集成多功能性：

　PD-QE 集成了多种功能，包括 EQE 测试、IV 曲线检测、D* 分析、NEP 分析和频率噪声频谱分析。 这种整合为客户提供了一站式性能评估解决方案，满足他们对整合多功能性的期望。

3.灵敏度测试：

　PD-QE 能够测量高分辨率的光电流（分辨率高达 10^-14 安培），使其适用于测试高灵敏度的光电探测器。 这有助于客户准确评估探测器在低光照条件下的性能，满足他们对灵敏度测试的期望。

4.宽波长范围：

　PD-QE 适用于各种光电探测器，无论是在研发阶段还是生产线上，都能提供先进的性能测试能力。

5.优异的光束控制技术：

　PD-QE 通过其光束耦合模块提供精确的光束尺寸控制 （1*1 平方毫米），满足精确光束控制的要求。 这让客户能够进行精确的性能测试，并模拟特定的应用情境。 这满足了客户对精确光束控制的需求，帮助他们执行更准确的效能评估和优化。

6.宽广的偏压电压范围：

　PD-QE支持从20伏特到200伏特的偏压电压调整，满足客户在不同电压条件下测试光电探测器的需求。 这有助于客户全面评估产品效能，并确保在各种应用条件下稳定运作。

7.易于操作和维护：

　PD-QE 采用用户友善的设计，操作简单，维护成本低，满足客户对易用性和维护性的需求。 这有助于客户节省时间和成本，同时保持高效的测试流程。

8.客户支持和技术服务：

　PD-QE 提供专业的客户支持和技术服务，协助客户快速解决使用过程中遇到的问题，确保设备稳定运作。 这满足了客户对及时有效支持的需求，帮助他们维持高效的测试流程。

规格

　● 光源不稳定性< 1%

　● 单色光模：波长范围 300~1100 nm。

　● 光斑耦合模组光斑尺寸：1*1mm2 。

　● 偏置电压也可由20V到200V。

　● 可测量高分辨率的光电流，分辨率最高可达10~14 A。

　● 波长扩充可达1800 nm。

应用

PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析可用于：

　● 第三代半導體材料：光電二極體/光電探測器。

　● 有机光传感器 （OPD， Organic Photodiode）。

　● 钙钛矿光传感器 （PPD， Perovskite Photodiode）。

　● 量子点光传感器（QDPD， Quantum Dots Photodiode）。

　● 新型材料光传感器。

实证

　● NEP/D*：

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。

　● EQE 光谱：

　　PD-QE 可以进行 EQE 光谱测试。除了标准的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可扩展到 1800nm。图中显示不同波长响应器件，在 PD-QE 系统下，测的 EQE 量子效率光谱。

　● 整合多种SMU控制进行IV曲线测试：

　　PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU，进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线，并进行多图显示。

　● 噪声电流频谱图：

　　PD-QE 凭借*进数字讯号采集与处理技术，直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试！并且软件可以进行多种频段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。