菲希尔COULOSCOPE CMS2库伦法测厚仪

菲希尔COULOSCOPE CMS2库伦法测厚仪

COULOSCOPE CMS2 STEP
与COULOSCOPE CMS2附录中描述的相同功能用于STEP测量测量
可调节的除镀电流
使用光标确定涂层厚度和潜在差异
自动测量序列，用于调节银参比电极（产生所需的AgCl涂层）
STEP测试（同时厚度和电化学势测定），ASTM B764，DIN EN 16866
测量原理
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同时测量镀层厚度和化学电位差）的简写， 是已经标准化很久的测量方法。它可以同时测量各镀层厚度和多层镍系统中两层之间的电化学电位差。 厚度测量时用库仑法来测量，电位差通过外面镀一层 AgCl 的银参比电极来测量。电压曲线可以显示在屏幕上，镀层厚度和电位差可以在图上读出。为了获得可以比较的稳定电位差测量结果，参比电极到工件的距离必须始终保持不变。 这个问题通过特殊的测量槽得到解决

如果不能使用非破坏性方法，Couloscope CMS2是测量金属或非金属基材上几乎任何金属涂层厚度的理想仪器，尤其是多层涂层。
COULOSCOPE CMS2 STEP：
除了与COULOSCOPE CMS2相对应的涂层厚度测量外，COULOSCOPE CMS2 STEP还提供符合ASTM B764  -  04和DIN EN 16866的STEP测试功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常适合测量单个涂层厚度和 多种镍涂层的潜在差异以简单的标准符合方式。
COULOSCOPE CMS2仪器可测量金属或非金属基材上几乎任何金属涂层的厚度。
仪器功能
单涂层和多涂层系统的测量
图形显示，可清晰地显示测量值，设定的涂层系统以及作为去镀速率和测试区域尺寸的参数
液晶显示屏上的电池电压图形显示
适用于大多数金属涂层的许多预定义测量应用
可选测量单位：μm或密耳
•欧洲，南美和亚洲展示语言