X-ray镀层测厚膜厚仪

X-ray镀层测厚膜厚仪介绍 ：

电镀是利用电解原理在某些金属表面镀上一薄层其它金属或合金的过程，是利用电解作用使金属或其它材料制件的表面附着一层金属膜的工艺，从而起到防止腐蚀、提高性、导电性、反光性及增进美观等作用。电镀分为挂镀、滚镀、连续镀和刷镀等方式，主要与待镀件的尺寸和批量有关。

    改革开放以后，电镀工业也进入快速发展时期，大批境外厂家进入中国长三角、珠三角、渤海湾等地区。十二五期间，电镀技术的应用热点将继续由机械、轻工等行业向电子、钢铁行业扩展转移，由单纯防护性装饰镀层向功能性镀层转移，由相对分散向逐渐整合转移。

 1.度

定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说，度就是重现性（Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的，测量的时间越长，则精度越高。 

2.重复性

定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。

3.准确度

定义为各次测定值mi对于真值（t）的偏差。因而，若度差，准确度也一定差。反之，准确度很差，度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性（Reliability）好，度和准确度都要求高。

4. 误差

X荧光分析的误差往往是很难计算的，所以，通常情况下，把统计涨落引起的误差作为测量的误差。

5.检出限（Limit of detection）

          当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量，就称为检出限（或叫检出限）。这时候，测到的含量的置信度（的程度）是99.87％.测定检出，一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样（基体）的不同而不同。

6.计数统计误差

       在放射性物质的测量中，假设仪器稳定性、机械在现性可确保，由仪器机械产生的误差可以忽略不计，但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值（N）的分布属于随机事件，其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长，则相对偏差就越小，即精度就越高。

1、快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。

2、无损：物理测量，不改变样品性质

3、准确：对样品可以分析

4、直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快

5、环保：检测过程中不产生任何废气、废水

X-ray镀层测厚膜厚仪技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机