岛津能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-7200

岛津能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-7200追求高速·高灵敏度·高精度

新型能量色散X射线荧光光谱仪

EDX-7200

ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 

ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) 

ü可进行无标样定量

更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————

l显著提升金属中微量元素的分析效果 

l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低

更高速———处理能力最大提高30倍 ————

l无铅锡焊分析案例

新功能———磷(P)的筛选分析————

l应对美国TSCA对磷的管控要求

l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度

l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)

岛津能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-7200新升级———降低分析成本————

l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间  

l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 

l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

FP法

根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。

配置自动设定平衡功能
样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。
 

背景FP法

背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 ：「特许」No.5975181）
在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面。

薄膜FP法

标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。

匹配功能

匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。
谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。

匹配结果

具有设计感的外观

460mm宽的紧凑机身，配置大型样品室

460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。
虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。

识别度高的LED显示灯

产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。

为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。

简洁的界面
在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

在测定界面上可以直接切换准直器
可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。

自动保存样品图像
测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。