LQ-TS-150A 芯片测试冷热冲击检测实验箱
参考价 | ¥ 65000 |
订货量 | ≥1台 |
- 公司名称 东莞市柳沁检测仪器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 LQ-TS-150A
- 产地 东莞
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2023/9/6 12:14:24
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高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱、紫外线老化试验箱、氙灯老化试验箱、快速升降温试验箱、淋雨试验箱、砂尘试验箱、步入式恒温恒湿试验室、高温老化房、真空及无尘干燥试验箱、盐水喷雾试验箱、跌落试验机、电磁振动台等各类环境仪器和力学试验设备。
产地类别 | 国产 | 价格区间 | 5万-10万 |
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应用领域 | 化工,农业,电子,航天,汽车 |
芯片测试冷热冲击检测实验箱符合标准:
1、GB 10589-89 低温试验箱技术条件2、GB 10592-89 高低温试验箱技术条件3、GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低温试验方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《高温试验方法Bb》
6、GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验
7、GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验
8、GJB150.5-1986温度冲击试验
芯片测试冷热冲击检测实验箱性能参数参考如下:
一、低温冲击可选择温度范围:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(厂家还免费配高温至150度)。
二、温度偏差:±2℃。
三、温度波动度:±0.5℃。
四、温度恢复时间:≤5min。
五、温度恢复条件:高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。
六、温度冲击转移方式:采用气动驱动。
七、高温室储温的升温时间:30min (+25℃~+200℃)。
八、低温室储温的降温时间:65min (+25℃~-75℃)。
九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音:(dB)≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音)
十、型号 内箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0