EDX-8000 色散X射线荧光光谱仪

色散X射线荧光光谱仪

１．概要 本规格书为使用 X 射线荧光分析法的能量色散型 X 射线荧光分析装置的说明。该装置具有以下特点： （１）搭载了无需液氮的 SDD 检测器，灵敏度高，分析速度快。 （２）考虑到分析通用性，搭载了标配准直器和样品观察摄像头。 （３）搭载 5 种滤光片，从轻元素到重元素，可进行高灵敏度分析（其中一种为 EDX-7000/8000 采用的滤光片，使以往分析困难的 Pd, Ru, Rh 等元素的分析成为可能）。 （４）搭载标准软件：操作简便，初次使用人员也可进行简单分析的软件（PCEDX-Navi）和以往通用 分析软件（PCEDX-Pro）。 （５）完善了无需标样的定量分析方法--定性定量分析法(FP 法)，标配搭载背景 FP 法，该方法可以提 高不规则有机物样品和微小样品的定量分析精确度。 （６）紧凑的机体上拥有 300(W)×275(D)×约 100(H)mm 的大型样品室，从大型样品到微小样品，可 以灵活应对。 ２．构成 本装置由以下 5 部分构成： （１）Ｘ射线发生部 ……………该部为激发样品中的原子产生一次Ｘ射线的部分。由Ｘ射线管、Ｘ射线 电源、一次Ｘ射线滤光片构成。 （２）检 测 器……………… 装有检测荧光Ｘ射线的半导体检测器、检测器高压电源和前置放大器 等。 （３）计数・控制部 …………… 计数部由 MCA（多通道分析仪）等构成。控制部内置计算机，控制 系统整体。 （４）样品室・检测室部 ……… 该部分为大型样品室。与真空/氦气置换以及调整钮的选购件组合 后，可提高轻元素的分析灵敏度和多样品连续分析的分析效率。 （５）PCEDX 软件……… 进行主机控制和定性・定量分析的操作。 ３．标准构成 ３．１ X 射线发生部 （１）X 射线管............................................................................................................................................... 1 套 （２）X 射线电源........................................................................................................................................... 1 套 （３）X 射线一次滤光片.. ........................................................................................................................... 1 套 ３．２ 检测器 （１）半导体检测器.......... ........................................................................................................................... 1 套 ３．３ 计数・控制部 （１）计数・控制部...................................................................................................................................... 1 套 ３．４ 样品室・检测室部 （１）样品室・检测室.................................................................................................................................. 1 套 ３．５ EDX 软件（参照附件规格表）.................................................................................................... 1 套 ３．６ 标准配件 .......................................................................................................................................... 1 套 ３．７ 使用说明说...................................................................................................................................... 1 套 /11S142-0434B 2

４．详细规格 ４．１ X 射线发生部 (1) X 射线管 样 式 侧窗、额定连续功率 50W Rh 靶 冷却方式 空冷（带风扇） (2) X 射线电源 电压 4 ～ 50kV、步进 1kV 电流 1 ～ 1000μA、步进 1μA  输出稳定性 ±0.5% 电路保护 检测过电压、过电流、过负荷、微放电 防 X 射线泄漏联锁装置 按键开关 X 射线发生有效/无效控制 (3) 警告显示 后部警告显示灯 发生 X 射线时亮灯 (4) X 射线一次滤光片 5 种自动切换 #1 17～25keV 范围内有效（元素示例 40Zr, 42Mo, 44Ru, 45Rh,  48Cd） #2 2～5keV 范围内有效（元素示例 17Cl, 24Cr） #3 5～7keV 范围内有效（元素示例 24Cr） #4 5～13keV 范围内有效（元素示例 80Hg, 82Pb, 83Bi, 35Br） #5 21～24keV（5～13keV）范围内有效 （ 元素示例 80Hg, 82Pb, 35Br,  48Cd） (5) 准直器 4 种自动切换 1mm, 3mm, 5mm, 10mmφ ４．２ 检测器 (1) 检测器 样式 硅漂移探测器 冷却方式 电子制冷（无需液氮） 检测范围 Na – U (EDX-7000)、C – U (EDX-8000/8100) ４．３ 计数・控制部  (1) 计数部 波形整形 数字处理（梯形滤光片） 检测范围 0～20,0～40（keV） 通道数量 2048ch 计数 2 32 - 1 / ch (2) 控制部 控制対象 X 射线发射部（X 射线电源、遮光器・滤光器、准直器）、检测器、