日立紫外可见光近红外分光光度计UH4150
- 公司名称 苏州思普莱信息科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2021/11/10 15:59:37
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波长范围 | 190~3300nm | 波长准确度 | ±0.1nm |
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光谱带宽 | 1nm | 价格区间 | 面议 |
接收器类 | CMOS | 仪器结构 | 双光束 |
应用领域 | 医疗卫生,环保,化工,能源,电子 | 杂散光(S.L.) | <0.01%T |
自动程度 | 自动波长 |
切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样日立紫外可见光近红外分光光度计UH4150也可实现高精度的测定
检测器切换时附近波长测定数据例
(金纳米棒的吸收光谱)
安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等,将检测器切换时(信号水平的差异)吸光度值的变化降到最小。
日立紫外可见光近红外分光光度计UH4150高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振
UH4150采用棱镜-光栅(P-G)双单色器的光学系统,秉承U-4100光学系统的特点。棱镜-光栅(P-G)系统与常见的光栅-光栅(G-G)系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品,UH4150也可实现低噪音测定。
分光光度计平行光束可实现反射光和散射光的精确测定
镜面反射率测定示例
入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束,由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同,因此,像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。 但对于平行光束,相对于样品入射角始终相同,实现了高精度镜面反射率的测定。此外,平行光束可用于扩散率(雾度)的评价和透镜透过率的测定。
分光光度计可提供适合不同测定目的的多种检测器
检测器产品线
可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。*2*3
采用全新人体工学设计
改进样品室门,提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作,采用了符合人体工学的设计。
兼容多种分光光度计U-4100附件
通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,适合更多的测定类型。
比分光光度计U-4100型更高的样品通量
在秉承U-4100型光学系统高性能的同时,UH4150提供更高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时,扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定,显著缩短测定时间。*5UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品,如太阳能反射材料,尤其有效。
扫描速度为600 nm/min的
太阳能反射材料的反射光谱
扫描速度为1,200 nm/min的
太阳能反射材料的反射光谱
微小样品透过率测定
微小样品透过率测定附件可用于像微型玻璃和摄像镜头等样品的透过率测定。
摄像镜头测定示例
微小样品透过率测定(P/N 1J0-0204)
掩膜类型 | 适合样品尺寸 |
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φ3mm掩膜 (标配) | φ5-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
φ1mm掩膜 (选配) | φ3-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
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更换光源掩膜必须要使用随附φ4 mm光源掩膜。
漫反射率测定
可将样品放在积分球后面(样品侧的入射角为0°)测定粉末等样品的漫反射率。
二氧化钛漫反射率测定示例
60 mm标准积分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)
入射角 | 0° |
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波长范围 | 240 - 2,600 nm |