Mitutoyo日本三丰光学镜头显微镜单元
- 公司名称 福建精析仪器有限公司
- 品牌 MITUTOYO/日本三丰
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2023/11/28 14:25:06
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三丰工业显微镜,三丰投影仪,三丰粗糙度仪,三丰圆度仪,三丰轮廓仪
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子 |
Mitutoyo日本三丰光学镜头显微镜单元
Mitutoyo日本三丰光学镜头显微镜单元 视频显微镜单元 VMU
■特点
·紧凑、轻巧的相机观察专用显微镜。
适用于金属、树脂、印刷表面、微小运动物体等各种观察对象。
·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工。※
※不保证激光振荡器配备系统的综合性能和安全性。
半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。
·适用于红外光学系统。※
※另需红外光源和红外摄像机等。
硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。
大视场视频显微镜单元 WIDE VMU
■特点
·高密度配置多个单元，可以对大范围进行集中检查。
·除了通常的明视场观察外，还适合用于外观检查和划痕检查的暗视场观察，以及具有偏光特性的观察对象的偏光观察。
精密显微镜单元 FS70
■特点
·带目镜观察部的小巧显微镜单元。
适用于金属表面和半导体、液晶、树脂等各种观察对象。
·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工。※
※不保证激光系统产品的性能和安全性。
半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。并适合作为半导体故障分析用探针台的光学观察部分。
·适用于红外光学系统。※
※另需红外光源和红外摄像机等。
硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。
明视场用物镜
M Plan Apo / M Plan Apo HR
■特点
·无限远校正
·明视场观察用
·长工作距离
·平场复消色差规格
明视场用近红外区校正 物镜
M Plan Apo NIR /M Plan Apo NIR HR
■特点
·无限远校正
·明视场观察及激光加工用
·长工作距离
·平场复消色差规格
·对可见区(常用观察波长区)到近红外区(波长～1800nm)进行了校正设计。
明视场用紫外区校正 物镜
M Plan UV
■特点
·无限远校正
·明视场观察及激光加工用
·长工作距离
·对紫外区(波长266nm)和可见区(常用观察波长区)进行了校正设计。
·重点保证了紫外区的高透射率。
光学镜头显微镜单元Mitutoyo日本三丰
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