EEM View 日立荧光分布成像系统

一、日立荧光分布成像系统（EEM View）简介

       作为荧光分光光度计的配件系统，这是将相机与荧光分光光度计的结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用*的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

    二、  日立荧光分布成像系统（EEM View）特点：

    1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）

在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用先进的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)

2.  样品安装简单，适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

丰富的样品支架

支持精确测量的校正工具

荧光分布成像系统是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。