LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪

贝克曼库尔特公司新一代 LS 13 320 XR 将激光衍射粒度分析仪提升到了一个更高的水平，升级版 PIDS 专技 术，优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更 好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快、更可靠地检测到颗粒粒径间极细微的差异。并且新软 件的操作界面更加直观，仅需点击几次便可获得您需要的数据。

LS 13 320 XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒 度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。LS 13 320 XR配备有多种新型的样品进样模块， “即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；PIDS技术，真正实现 10nm粒径测量；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作。LS 13 320 XR将为您开启全新的测量体验！
超高分辨率
不论单峰、双峰还是多峰，不论纳米、微米还是纳微米，均可实现高分 辨率的检测
宽测量范围：10nm-3500µm
提供真实（峰值）、高分辨率的测试数据，下限低至 10nm，上限高达 3500µm
升级版 PIDS 技术：更好解决纳米测量挑战
提高原始数据检测精度，提高检测器检测垂直和水平偏振散射光的灵敏 度，真正实现亚微米级粒度分析 - 以往极难达到的测量能力
多峰自动检测
测量前无需估计粒度分布情况（比如多峰、窄分布），便可获得真实的 测量结果
简单、直观的操作软件
• 从开始测量到获得结果仅需 2 次点击
• 包含一个集成的光学常数数据库
• 随时向您通报有用的用户诊断报告
• 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间
数据完整性及合规性
FDA的《电子记录和电子签名规则》 （21 CFR 第 11 部分）规定了提交电 子文件的要求。选择软件的最高安全 等级，系统将自动调节以下配置，以 符合该法规要求：
• 电子签名
• 用户安全登录
• 用户权限
• 审查跟踪
• 错误日志文件
• 管理配置工具
验证
这是《生产质量管理规范（GMP）》和其它法规要求所必须的。 LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪配备符合GMP要求的验证程序，可满足安装验证（IQ）和运行验证（OQ） 所需。

简单易用的软件 简化您的日常工作
导航轮 显示和导出数据仅需点击 1 次。
比以往更高效的粒度分析
LS 13 320 XR 软件的功能界面更加直观，非常易于使用，您无需具备大量的操作知识便可轻松获得准确 的数据。
开始测量
检测方法一旦在LS 13 320 XR软件中设定，仅需点击2次便 可开始测量。选择预先设定的方法，编辑样品信息，然后点 击开始测量。
仪器自检
仪器配备有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。
自动合格/不合格管理，实现直接质控
为检验样品合格/不合格，LS 13 320 XR软件自动对测量结果 标注绿色或红色，提示其是否符合所需规格。因此，无论操 作人员经验如何，均可通过该功能迅速了解样品质量情况。
导航轮
显示和导出数据仅需点击 1 次。

重磅创新 帮助您准确测量细微差异
细节尤为重要！样本间极细微的差异，会导致成品间出现巨大差异。 这也是为什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析仪采用 132 枚检测器的原因，其可以提供更高的分辨率，获得更 准确的检测结果，同时实现 10 nm - 3500 µm 的宽范围测量。
X-D阵列检测器 - 确保高分辨率的准确测量
• 特殊设计X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，获得 真实准确的粒度分布
• 132枚检测器能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，快速、准 确的提供真实粒度分布
• 优化的检测器信噪比，大大提高了检测到散射光强谱图细微变化的能力
• 亚微米检测区域，应用6枚检测器对三种不同波长的光在垂直和水平偏振 方向上进行36个单独检测，提供纳米级颗粒优异的准确性和高分辨率

多峰样品自动检测，更放心
• 凭借业界出众的技术，无需预估样品峰 型，无需选择分析模型，轻松准确分析 多峰样品，让您对测试结果更放心
• 准确性误差优于±0.5%
• 重复性误差优于±0.5%

重磅创新 真正实现纳米级测量
创新不止，重磅升级，基于升级版PID技术，LS 13 320 XR真正实现纳米 级测量，提供亚微米颗粒更高分辨率的粒度分析，下限可准确检测至 10nm！
PIDS技术：偏振光强度差散射
传统方法测量亚微米颗粒的散射光强谱图在形状和强度 上都非常相似，区分比较困难，因此当测量亚微米颗粒 时，由于分辨率低而造成不准确的粒度测量。
而亚微米颗粒在水平和垂直偏振光下可形成差异的散射 谱图，而这些差异便是亚微米颗粒识别的重要信息。 PIDS技术采用了3种不同波长的光顺次照射样品，首先 为垂直偏振，然后为水平偏振，通过分析每个波长的水 平和垂直辐射光之间的差异，便可获得亚微米样品准确 的粒度分布信息。升级版PIDS技术从光源到滤波器 再到检测器都进行了全面的升级，使得测量亚微米颗粒 的动态范围和分辨率都得到了更大程度上的提高。