S100/S200/S300 第三代半导体IV曲线分析仪

源表特点：

多功能：可作源和负载，又能测；

高效率：满足多种测试需求；

可编程控制：高精度可调，灵活控制；

IV扫描：快速、直观显示，一步操作。

应用领域：

分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

测试功能：

S系列源表特点：

1. 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作            

2. 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

3. 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半

4. 四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至10pA

5. 丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

6. 支持USB存储，一键导出测试报告

7. 支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网  

   
   

   
   

应用优势：

1、 多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高300V，电流低至100pA；

2、 实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。

3、 具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；

精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。

4、 触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。

国产优势

1、自主研发，符合大环境下国内技术自给的需求；

2、性价比高；

3、可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程，加速测试系统开发。

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