JEM 2100F 高分辨透射电子显微镜样品形貌分析

高分辨透射电子显微镜样品形貌分析JEM2100F

1. 获得纳米材料，金属材料，陶瓷材料的微观形貌，孔隙情况，样品颗粒大小等；

2. 获得材料的高分辨数据，晶格条纹，获取晶体学参数；

3. 获得材料衍射花纹，判断材料晶体学参数；

4. 得到材料EDS信号，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可进行面扫，点扫，线扫等方式；

高分辨透射电子显微镜样品形貌分析主要技术指标：

1、点分辨率：0.25nm；线分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm

2、加速电压：80，100，160，200KV

3、倾斜角（X/Y）：±42/±30°；

4、配备德国Bruker公司XFlash 5030T型X射线能谱仪

应用范围：

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定；

4.复合材料界面特性的研究。