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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 10万-20万 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 文体,电子/电池,包装/造纸/印刷 |
XF-S5700型硅油涂布量分析仪是一款面向硅元素检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于硅油涂布行业产品工艺及成本的管理。该产品既可以分析PET薄膜，还可以分析格拉辛、淋膜纸及牛皮纸等多种硅油涂布量。该产品同时支持选装多位转盘，装好样品后，可一次性检测10个样品位。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
规格
l 输入电压：AC100～240V，50Hz
l 产品包装尺寸：800mm x 535mm x 450mm
l 产品尺寸：467mm x 345mm x 336mm
l 样品腔尺寸：306mm x 248mm x 124mm
l 额定功率：<150W
l 毛重：50KG
l 净重：32KG
l 噪音：50dB
l 使用环境：
n 温度：15℃～31℃
n 湿度：<70%（不结露）
特点
l 元素检测范围：铝(No.13)～钛(No.22)
l 分析范围：0.01~50
l 检测精度：±0.01
l 检测样品： PET离型膜/各类离型纸
l 整张A4纸大小样品直接测试，不用裁剪取样
l 1张薄膜或纸张多点连续测试，测试效率高
l 定制TCP/IP协议API接口，支持对模块的控制、状态监控及数据采集
l 支持选装配件：自动转盘检测（10位）
核心部件
l 探测器：AMPTEK定制版Fast-SDD探测器
l 内置工控电脑：NXP IMX8四核A53工控电脑
l 高压电源：50KV/1mA数字高压电源
l X射线管：20KV/1mA
n 窗口材料：铍窗
n 靶材：银/铑
n 焦点：ϕ 1.0mm
l 准直器：ϕ8mm
软件版本
l Linux内核版本：4.14.98
l XRF软件版本：V1.2.0
l RTM版本：R10101570001-210218
l 系统固件版本：V8.03(B02)
l DSP固件版本：V6.10
硬件接口（背面）
前面板
右侧面
软件接口
见《XF-S5700通讯协议》手册。
附件
序号 | 名称 | 数量 | 规格 |
1. | 飞利浦显示器 | 1 | 24吋 |
2. | 标签打印机 | 1 | 220×160×110mm |
3. | 标签纸1 | 1 | 50×70mm |
4. | 标签纸2 | 1 | 50×15mm |
5. | 220V电源线 | 1 | 2米 |
6. | 增益天线 | 1 | 1个 |
7. | 网线 | 1 | 1.5米 |
8. | 防尘罩 | 1 | 西凡仪器制 |
9. | 样品压块 | 1 | ϕ35/高30mm |
10. | 通道校正块 | 1 | Φ40/高10mm |
11. | 薄膜样品杯 | 1 | Φ39/高35mm |
12. | 薄膜纸张取样器 | 1 | 10mm2样品量 |
13. | 取样用硅胶垫 | 1 | 300×200×8mm |
14. | 支撑薄膜 | 20 | 厚度：4微米 |
15. | 键鼠套装 | 1 | 罗技 |
16. | 操作说明书 | 1 | A4 |
17. | 出厂检测报告 | 1 | A4 |
18. | 仪器资质文件 | 1 | A4 |
19. | 仪器出厂校准报告 | 1 | A4 |
20. | 配件样品盒 | 1 | 随机 |
产品尺寸图
保养与校正
l XF-S5700需要放置在干燥常温环境下，如果长时间不使用，请拔出电源插头，取出键盘和鼠标中的电池，用防尘罩罩住分析仪。
l 如仪器外壳的金属板上有可目视发现的污垢，请用稀释后的中性清洁剂和柔软的布来进行清洁，之后请使用干布擦去水分。（不可使用酒精清洗）
l 仪器背部有X射线锁，使用时请确认其在允许位置。
l 每天第一次开机，需要正常热机5分钟，非紧急状态不要取消预热过程。
l 长时间不使用的情况下，需要每周开机测试任意样品半小时，保持X射线管干燥。
l 校正使用随机附送的标准块，软件接口选择“峰位校正”后，S5700会自动校准谱形能量刻度。通常建议一周一次。
注意事项
l 样品在测试中或测试完成后，X射线依然处于激发状态，开盖后系统会自动切断X射线电源，保证辐射安全。
l 主机突然断电可能会导致仪器内置工控电脑文件丢失，确保使用UPS，在需要关闭设备电源前，确保先关闭软件。
l 样品支撑膜主要是防止灰尘进入仪器内部，如果出现破损，需要及时更换。
修改历史
日期 | 版本 | 修订记录 |
2021/03/18 | V1.00 | 初始化版本。 |
采购中心
化工仪器网