S系列 LDO芯片电学特性测试数字源表

LDO芯片电学特性测试方案

1. 概述

   LDO，全称为“Low Dropout Regulator”，是一种低压差线性稳压元器件。其工作原理为，使用在其饱和区域内运行的晶体管或场效应管（FET），从应用的输入电压中减去超额的电压，产生经过调节的输出电压。相比于传统的DC-DC变换器，LDO具有成本低，噪音低，静态电流小的特点，需要的外接元件也很少，因此,LDO广泛应用于需要稳压输出的场景。

                           （UTC78XX系列LDO封装以及内部电路示意图）

2. ​ 

3. 源表，SMU(Source Measure Unit)电源/测量单元，“源”为电压源和电流源，“表”为测量表，“源表”即指一种可作为四象限的电压源或电流源提供精确的电压或电流，同时可同步测量电流值或电压值的测量仪表。普赛斯S系列高精度源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能于一体。产品最大输出电压达300V，最小测试电流量程低至100pA，支持四象限工作，因此,可广泛应用于LDO类芯片测试。

    

    

4. 常用电性能参数测试

   LDO常用的电性能参数测试，主要包括输出电压、输入输出电压差、线性调整率、负载调整率、静态电流等。由于LDO的测试需要分别采集输入与输出端的数据，因此一般情况下，测试系统至少需要配置2台SMU，并采用上位机软件(PssSMUTools)进行控制。（以下测试均参考UTC7805规格进行）

    

   （二线法连接示意图）

    

    

   （四线法连接示意图） 

    

    

5. 测试方案

6. Vo输出电压测试

   Vo输出电压，是LDO在正常工作下的稳定输出电压值。当加载在LDO输入端的工作电压，在规定范围内变动时，LDO的输出电压Vo稳定在特定范围内。常用测试方法为，在LDO的输入端，加载稳定变化的电压，同时测量对应的输出端电压值。一般采用二线法连接即可。（参考UTC7805规格书，其规格参数5V左右）

   操作步骤

• V_oi输入输出电压差，ΔVo线性调整率测试

  V_oi输入输出电压差，是LDO正常工作时输入端与输出端的最小电压差值。ΔVo线性调整率是输入电压变化后对输出电压造成的影响。常用测试方法为，在LDO的输入端，加载稳定变化的电压，同时测量对应的输出端电压值，并计算两端电压测差值，或者输出端的变化值。此外，为降低测试中线材的干扰，输入输出电压差测试可采用4线连接法进行测量。（参考UTC7805规格书，V_oi值为2V左右,ΔVo值为4mV左右）

  操作步骤

• ΔVo_load负载调整率测试

  ΔVo_load负载调整率是输出端接不同负载，输出端电压的变化。由于源表可以直接当电子负载，所以可以直接让源表做负载。常用测试方法为，保持LDO输入端电压稳定不变，在LDO的输出端，加载不同的电流值，同时测量对应的输出端电压值，并计算输出端的电压变化值。此外，为降低测试中线材的干扰，该测试可采用4线连接法进行测量。（参考UTC7805规格书，ΔVo_load值为4mV左右）

  操作步骤

• IQ静态电流测试测试

  IQ静态电流，是指输出端空载时，输入端流进的电流。常用测试方法为，断开LDO的输出端的连接，加载不同的电流值，在LDO输入端加载电压，并测量对应的输入端电流值。（参考UTC7805规格书，IQ值为5mA左右）

   

  （连接示意图）

  操作步骤