安捷伦Agilent 81960A 可调光源 价格参数

安捷伦Agilent 81960A 可调光源 价格参数

安捷伦Agilent 81960A 可调光源 价格参数

主要特性与技术指标

    波长范围 1505 至 1630 nm
    扫描波长精度 ±10 pm
    最大扫描速度 200 nm/s
    在进行双向扫描时，重复率超过 2 次/秒
    内置相关控制、受激布里渊散射（SBS）抑制

描述

Agilent 81960A 具有更快的扫描速度和重复率，以及可满足 DWDM 元器件测量需求的动态精度技术指标，为紧凑型可调谐激光器创造了新的性能标准。 在两个方向上动态的扫描可进一步提高重复率，适合在调整和校准过程中实时使用。 Agilent 81960A 的动态波长精度将以最佳的性价比满足许多 DWDM 元器件的测试需求。 出色的信号源与自发噪声比使其足以对许多滤波器件的隔离度进行测试。

81960A 极快的测量速度和出色的测量精度可帮助您实现研发和生产目标。

特性：

    创新、*、*的双向扫描测量
    在 80 nm 扫描范围内实现高达 200 nm/s 的扫描速度
    在进行双向扫描时，重复率超过 2 次/秒
    1505 至 1630 nm 波长范围，适用于对 DWDM 器件进行 C+L 频段测量
    输出功率高达 +14 dBm，可调低至 +6 dBm
    由 N7700A 测量引擎支持的自动测量、更新的 816x 即插即用驱动器、N4150A 光基础程序库和直接的 SCPI 命令。


优势：

    借助 81960A 在激光器、主机和功率计之间进行更快双向开关转换和更出色数据处理的能力，可在相同时间内测试更多的器件。
    使用全新 N7700A-102 快速频谱损耗引擎（为 81960A 的快速扫描新功能提供 GUI 界面，用于功率和 IL 测量）和 Agilent N7744A 或 N7745A 多端口功率计，可以立即开始测试。
    借助超越 OSA 测量的波长分辨率和动态范围，调整和校准滤波器元器件。2 nm 扫宽时重复率高达 3 次/秒；40 nm 扫宽时重复率高达 1 次/秒。
    当使用 N7700A-101 IL/PDL 测量引擎进行单次扫描 PDL 和 IL 测量时，激光器在连续扫描方面的增强性能可以提供极大帮助。
    通过结合使用 81960A 和用于测量 PMD、DGD、PDL 和 IL 的 N7788B 元器件分析仪，可采用 JME 法对隔离器、PMF 和其他宽带元器件进行精确的 DGD 测量。
    可使用现成的定制程序，这些程序兼容 816x 即插即用驱动程序、N4150A 光基础程序库，以及现有 8194xA 和 8198xA 可调谐激光器模块的 SCPI 命令集。

主要特性与技术指标

    波长范围 1505 至 1630 nm
    扫描波长精度 ±10 pm
    最大扫描速度 200 nm/s
    在进行双向扫描时，重复率超过 2 次/秒
    内置相关控制、受激布里渊散射（SBS）抑制

描述

Agilent 81960A 具有更快的扫描速度和重复率，以及可满足 DWDM 元器件测量需求的动态精度技术指标，为紧凑型可调谐激光器创造了新的性能标准。 在两个方向上动态的扫描可进一步提高重复率，适合在调整和校准过程中实时使用。 Agilent 81960A 的动态波长精度将以最佳的性价比满足许多 DWDM 元器件的测试需求。 出色的信号源与自发噪声比使其足以对许多滤波器件的隔离度进行测试。

81960A 极快的测量速度和出色的测量精度可帮助您实现研发和生产目标。

特性：

    创新、*、*的双向扫描测量
    在 80 nm 扫描范围内实现高达 200 nm/s 的扫描速度
    在进行双向扫描时，重复率超过 2 次/秒
    1505 至 1630 nm 波长范围，适用于对 DWDM 器件进行 C+L 频段测量
    输出功率高达 +14 dBm，可调低至 +6 dBm
    由 N7700A 测量引擎支持的自动测量、更新的 816x 即插即用驱动器、N4150A 光基础程序库和直接的 SCPI 命令。


优势：

    借助 81960A 在激光器、主机和功率计之间进行更快双向开关转换和更出色数据处理的能力，可在相同时间内测试更多的器件。
    使用全新 N7700A-102 快速频谱损耗引擎（为 81960A 的快速扫描新功能提供 GUI 界面，用于功率和 IL 测量）和 Agilent N7744A 或 N7745A 多端口功率计，可以立即开始测试。
    借助超越 OSA 测量的波长分辨率和动态范围，调整和校准滤波器元器件。2 nm 扫宽时重复率高达 3 次/秒；40 nm 扫宽时重复率高达 1 次/秒。
    当使用 N7700A-101 IL/PDL 测量引擎进行单次扫描 PDL 和 IL 测量时，激光器在连续扫描方面的增强性能可以提供极大帮助。
    通过结合使用 81960A 和用于测量 PMD、DGD、PDL 和 IL 的 N7788B 元器件分析仪，可采用 JME 法对隔离器、PMF 和其他宽带元器件进行精确的 DGD 测量。
    可使用现成的定制程序，这些程序兼容 816x 即插即用驱动程序、N4150A 光基础程序库，以及现有 8194xA 和 8198xA 可调谐激光器模块的 SCPI 命令集。