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FR1700 AG防眩层膜厚仪

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~苏州瑞格谱光电科技有限公司位于江苏省苏州工业园区,是一家致力于给面板显示行业、计量单位、高校科研机构、第三方检测机构以及光学检测设备仪器生产企业提供一些光学检测仪器及环境可靠性、温度、电学等测试设备的企业;是集生产、销售、维护为一体的综合性仪器服务商,能为各单位的生产、研发、质量检测、实验室等部门提供精确的技术选型及完善的售前和售后服务。经过不懈努力瑞格谱已与多家著名仪器仪表及质检计量单位、军工科研院所、高校实验室等建立了稳固、广泛的技术与销售合作关系,瑞格谱逐渐发展成为华东地区的优质仪器供应商。

气体浓度验证检定仪,GH-180混合气体腐蚀箱,无线温度数据采集器,温度探头、光学标准器,色板,白板,光泽度板,旋光仪衰减器,升色温玻璃

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 化工,建材,电子,汽车,综合

1. 产品概述

AG防眩层膜厚仪: 按照客户需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具

AG防眩层膜厚仪 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,可用于表征厚度范围为1nm-1mm 的防眩膜层。

AG防眩层膜厚仪 是为客户量身定制的,并广泛应用于各种不同的应用。

比如:

吸收率/透射率/反射率测量,薄膜特性在温度和环境控制下甚至在液体环境下的表征等等

2. AG防眩层膜厚仪应用

大学&研究实验室、半导体行业、高分子聚合物&阻抗表征、电介质特性表征、

生物医学、硬涂层,阳极氧化,金属零件加工、、光学镀膜、非金属薄膜等等…

AG防眩层膜厚仪可由用户按需选择装配模块,核心部件包括光源,光谱仪(适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统)和控制单元,电子通讯模块。

通过不同模块组合,蕞终的配置可以满足任何终端用户的需求。

3. 膜厚仪规格(Specificatins


Model

UV/Vis

UV/NIR -EXT

UV/NIR-HR

D UV/NIR

VIS/NIR

D Vis/NIR

NIR

光谱范围  (nm)

200 – 850

200 –1020

200-1100

200 – 1700

370 –1020

370 – 1700

900 – 1700

像素

3648

3648

3648

3648 & 512

3648

3648 & 512

512

厚度范围

1nm – 80um

3nm – 80um

1nm – 120um

1nm – 250um

12nm – 100um

12nm – 250um

50nm – 250um

测量n*k 蕞小范围

50nm

50nm

50nm

50nm

100nm

100nm

500nm

准确度*,**

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

1nm or 0.2%

2nm or 0.2%

3nm or 0.4%

精度*,**

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.02nm

0.1nm

稳定性*,**

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.05nm

0.15nm

光源

氘灯 & 钨卤素灯(内置)

钨卤素灯(内置)

光斑 (直径)



350um (更小光斑可根据要求选配)



材料数据库




> 600 种不同材料




4. 膜厚仪配件


电脑

13~19 英寸屏幕的笔记本电脑/触摸屏电脑

聚焦模块

光学聚焦模块安装在反射探头上,光斑尺寸<100um

薄膜/比色皿容器

在标准器皿中对薄膜或液体的透射率测量(选配)

接触式探头

用于涂层厚度测量和光学测量的配件,适用于弯曲表面和曲面样品(选配)

显微镜

用于高横向分辨率的反射率及厚度显微测量(选配)

Scanner  (motorized)

带有圆晶卡盘的PolarR-Θ)或 CartesianX-Y)自动化样品台可选,PolarR-Θ)样品台支持反射率测量,CartesianX-Y)样品台支持反射率和透射率测量(选配)

积分球

用于表征涂层和表面的镜面反射和漫反射(选配)

手动 X-Y 样品台

测量面积为 100mmx100mm 200mmx200mm x - y 手动平台(选配)

加热模块

嵌入FR-tool 中,范围由室温~200oC,通过FR-Monitor 运行可编程温控器(0.1 oC 精度).(选配)

液体模块

聚四氟乙烯容器,用于通过石英光学窗口测量在液体中的样品。样品夹具,用于将样品插入可处理 30mmx30mm 样品的液体中(选配)

流通池

液体中吸光率、微量荧光测量(选配)

5. 膜厚仪工作原理

白光反射光谱(WLRS)是测量垂直于样品表面的某一波段的入射光,在经多层或单层薄膜反射后,经界面干涉产生的反射光谱可确定单层或多层薄膜(透明,半透明或全反射衬底)的厚度及 N*K 光学常数。

* 规格如有更改,恕不另行通知; ** 厚度测量范围即代裱光谱范围,是基于在高反射衬底折射率为 1.5 的单层膜测量厚度。





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