TG-61321D 三箱式高低温冲击试验箱

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱仪器设备用途：

高低温冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括汽车电子/部件、LED/LCD/PDP显示照明、电子电工、仪器仪表、新能源/电子元件/电器、塑胶/橡胶/薄膜、科研/质检/院校/医疗器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行业领域等材料，可作为其产品品质验证或改进的依据和参考。

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱构造概述：

高低温冲击试验箱/冷热高温低温试验室，因为冷热冲击试验箱也是高低温冲击试验箱，所以三槽冷热冲击试验箱也是三槽高低温冲击试验箱。主要结构是由三个槽（高温槽、低温槽、产品槽）组成，高温槽即是生产及储存高温，低温槽即是生产及储存低温，产品槽则是提供给顾客摆放产品的空间容积。冲击原理是采用气体驱逐高、低温槽的冷热温到摆放产品槽的空间内完成试验。

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱适用于标准:

1：GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件；

2：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 军yong设备环境试验方法 第3部分 高温试验；

6：GJB/T 150.4-2009军yong设备环境试验方法 第4部分 低温试验；:

7：GJB/T 150.5-86 军yong设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。

8：GJB150.5- 86温度冲击试验;

9：GJB360.7-87温度冲击试验;

10：GJB367.2-87 405温度冲击试验;

11：GB11158-2008高温试验箱技术条件

12：GB10589-2008低温试验箱技术条件

TG-61321C三箱式高低温冲击试验箱产品特点：

1： 泰规仪器生产的新一代高低温冲击试验箱（3箱），箱体结构、制冷系统、控制技术均有较大的技术改革，运行更可靠，维护更方便。

2：制冷机采用“泰康”或“ 比泽尔”。

3：控制系统采用<span style="font-family:微软雅色触摸屏中英文显示按键式操作，外观更加简单大方，操作设定简单。

4：高低温冲击试验箱根据待测试样的特殊性，分为两箱式幼态冲击和三箱式静态冲击。本产品既可作冷热冲击实验，也可以做单独高温或单独低温使用。

5：测试样品一直处于静止状态，减少对样品的机械冲击，其温度转换通过气动系统打开（关闭）不同风门来实现，有测试孔，可带电，带信号，带气源测试。可实现5℃/min-30℃/min可调。

6：高低温冲击试验箱配备: SD卡储存，USB输出，电脑连接打印，大舱有纸无纸记录等选配。

7：箱体加工采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。壳体采用优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理或（选配）SUS304不锈钢雾面线条发纹处理，内部材质均采用SU304高级不锈钢材质。

8：高低温冲击试验箱配备大型观测视窗附品牌照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱技术参数：