台式 德国Fraunhofer植物表型分析系统

测量技术描述

除了X光源以及高分辨率检测器，此易于操作的设备本身还配有旋转的操作系统。螺旋功能集成在操作控制软件中，当测试目标旋转360°后，可进行垂直操作。该设计确保了高品质测量结果，不产生无用制品，特别是在检测多层结构目标时。根据样品尺寸(参见技术参数)，扫描可一步完成，之后便将测量数据保存以便浏览。系统自带Fraunhofer EZRT研发中心开发的控制软件，直观友好的界面可逐步指导用户进行个性化设置，直至获得所需结果，即便客户没有经验或没有参加培训亦可进行操作。有经验的用户可使用加强版软件界面以对所有部件实现中心控制。在执行测量前，可用备选功能实现模拟测量。

技术参数

重量：150kg

软件：Fraunhofer Volex;Fraunhofer VP

X-射线检测器分辨率：49.5 μm

最大扫描面积：21cmX10cm

扫描方式：样品360°转动

扫描时间：快速2-10分;高分辨率模式，60 - 80分

X-射线检测器表面涂层：Gd2O2S闪烁体材质

安全防护：安全线路设计，防辐射设计

扫描仪操作电压： 230 V或380 V( 50 Hertz)

样品升降操作距离：20cm 

像素数(px)：2304 x 1300

手动定位放大倍数：1.6倍(Φ140 mm)- 35倍(Φ 1 mm)

环境条件：操作温度10℃-30 ℃，湿度10-85%，防尘

样品操作旋转台：n x 360°

利用CT断层扫描仪筛选小麦耐旱耐热性

提高小麦对非生物胁迫的耐受性，需要对产量构成因素如粒数、单粒重等进行大规模筛选，这些都是非常费时费力的，而对种子形态的详细分析在视觉上往往是不可能的。计算机断层扫描技术为更快速、更准确地评估产量构成因素提供了机会。通过对种子和穗部形态的详细分析来评估不同胁迫条件下不同品种小麦种子的性状。对203份不同品种小麦的X射线计算机断层扫描分析结果表明，该方法能够以 95-99%的准确率评估小麦结实；大多数暴露在干旱和高温胁迫下的材料都发育出较小的、干瘪的种子，种子表面增加；与干旱相比，干旱和高温叠加作用显著降低了种子重量、穗粒数和单粒大小，*测定了干旱和高温联合胁迫下的种子皱缩和胚芽变形等形态性状。CT断层扫描分析方法可以检测小麦、小麦穗甚至单粒种子之间的微小遗传差异，这对于提高粮食产量和生产有韧性的品种至关重要。更重要的是，该方法是易于自动化的，能够以很高的分辨率在短时间内完成大批量小麦麦穗的表型分析。在大规模的遗传研究和育种计划中，每年都要对大量材料进行实地评估，这一分析处理能力与遗传研究和育种计划相适应。

参考文献

Jessica S, Joelle C , Norbert W, Anja E, Delphine F, Trevor G, Stefan G. (2020). Drought and heat stress tolerance screening in  wheat using computed tomography. Plant Methods, 16:15