FlyTOF 飞行时间法迁移率测量系统
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 东谱科技（广州）有限责任公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 FlyTOF
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2021/11/16 15:30:11
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| 应用领域 | 化工,能源,电子,综合 | 夹具 | 定制夹具，实现惰性气体氛围 |
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一、系统介绍
FlyTOF飞行时间法迁移率测量系统是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight, TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料，如有机半导体、金属-有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework, COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF系统是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。
二、产品特点
测试过程由软件控制，UI界面友好，操作便捷；
带样品仓，方便更换样品和电学互联；
带位移功能，方便对同一基片上的不同器件进行测试；
所有光路均置于封闭暗箱内，无外界光源影响；
光路进行了优化设置，一般不需要额外调整光路；
可根据需要集成偏置光或多光束激发；
可灵活耦合不同类型激光器进行测试；
可集成其他定制功能。
三、系统典型参数表
可选激发光源：OPO激光器，氮气激光器，半导体激光器
*数据采集模块： 1 GS/s - 10 GS/s sampling
*偏压电源
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产品或参数可根据客户需求灵活配置。
FlyTOF飞行时间法迁移率测量系统开放测试，欢迎各位新老客户咨询并测试样品！
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