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安科瑞泰SENDIRA红外光谱椭偏仪

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深圳市新玛科技有限公司致力于电子测试测量领域为客户提供的测试和高效的解决方案和全面的系统服务,提供通用测试产品,示波器、逻辑分析仪、信号源、交流、直流电源、数据采集器、交流、直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案,专业提供电磁兼容测试系统,电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统,并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式涵盖测试仪器销售、 计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务,产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天,科研院所大学等行业, 我们严格遵循以合格的产品去服务于客户,帮助客户选择适合的解决方案。

随着中国市场越来越多的进口设备进入中国在中国每年有数量众多的技术*,价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置,对于每一个面对竞争的企业来说,这种浪费是致命的,我们认为我们必须了解客户的需求,将行业内众多成熟的方案帮助中小型技术企业客户实现合理的配置同时提高产品的稳定性和可靠性,并降低产品开发成本和生产成本。

新玛通过与Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等厂商的合作,为客户提供产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。
      新玛通过与业务伙伴的紧密合作,凭借便捷的进货渠道和服务网络,为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务,成为电子测试领域的综合服务商。


示波器,电子负载,热像仪,逻辑分析仪,频谱分析仪,数据采集器,安规综合测试仪,交直流电源,电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案,

应用领域 能源,电子,交通,汽车,电气

安科瑞泰SENDIRA红外光谱椭偏仪

 椭偏振动光谱

利用红外光谱中分子振动模的吸收带,可以分析薄膜的组成。此外,载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。

傅立叶红外光谱仪FTIR*适用

集成赛默飞世尔Thermo Fisher制造的型号FTIR iS50红外光谱仪。它也适用于一般的振动光谱。

 

光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度,折射率,消光系数以及体材料,单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的,现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。

安科瑞泰SENDIRA红外光谱椭偏仪

SENTECH光谱椭偏仪SENDIRA是专门为红外应用(FTIR)设计的。紧凑型测量台包括椭圆仪光学部件,计算机控制角度计,水平样品台,自动准直透镜,商用FTIR和DTGS或MCT探测器。FTIR在400 cm-1 ~6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光谱范围内提供了*的精度和分辨率。

光谱椭偏仪SENDIRA主要用于薄层的振动光谱分析。应用范围从介质膜、TCO、半导体膜到有机膜层。SENDIRA是由SpectraRay/4 软件操作,另外还提供了FTIR软件。

Hydrogen concentration in a-Si films of thin film solar cellsOptical constants of PV glassDiffusion profile for epi-siliconPurged IR-beamlineP-diffusion profiles in c-Si silicon solar cells

 



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