Keithley吉时利2601B数字源表|租售|回收

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*供应/回收/维修*
<示波器、电桥、LCR表、功率计、频率计、电源
<网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、综合测试仪
<天馈线测试仪、色彩分析仪、信号源、无线蓝牙测试仪
<函数任意波形发生器、线材测试仪、万用表、数据采集器等等

主要品牌：
HP-惠普、Agilent-安捷伦/keysight-是德科技、Tektronix-泰克、Fluke福禄克、
LitePoint-莱特波特、Advantest-爱德万、Anrilsu-安立、R／S-罗德＆施瓦茨、
Yokogawa-横河、Konica Minolta-柯尼卡美能达、Keithley-吉时利、
Chroma-致茂、Extech-华仪、HIOKI-日置等世界。

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                                                                  Keithley吉时利2601B数字源表

产品信息：
 
       Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。 另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接多 64 条通道，适用于大容量并行测试。

2600B系列系统数字源表源测量单元（SMU）仪表是业界的电流/电压源 与测量解决方案，它是利用吉时利第三代源测量单元（SMU）技术建造的。2600B 系列产品包括单通道和双通道型号，集成了高精密电源、真正电流源、6位半数字多用表（DMM）、任意波形发生器、脉冲发生器以及电子负载等功能——这些功能都在一个高度集成的仪器机箱内。这是一个功能强大的解决方案，大大提高了从台式 I/V特性分析道高度自动化生产测试等各种应用中的测试效率。对于台式应用，2600B系列数字源表内置基于Java的测试软件，支持即插即用I/V测试，可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。对于自动化系统应用，2600B系列数字源表的测试脚本处理器(TSP)，可以运行仪器内存储的完整测试程序，实现业界的吞吐量。在更大型的多通道应用中，吉时利的TSP-Link技术与TSP协同工作，实现了高度、SMU-per-pin并行测试。由于2600B系列数字源表源测量单元（SMU）仪表具有不需要主机的、*隔离的通道，因此，可以根据测试应用需求的进展，很容易进行重新配置和重新部署。
基于Java的即插即用I/V测试软件
2600B系列数字源表是内置基于Java测试软件的源测量单元（SMU）仪表， 支持真正的即插即用I/V特性分析，可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。这个*功能提高了研发、教育和QA/FA等各种应用的测试效率。只需通过附送的 LAN电缆，将2600B数字源表连接至互联网，打开浏览器，输入2600B的IP低至，即可开始测试。测试结果可以下载之电子数据表（如Excel），供进一步的分析和格式化，或者导入其他文档或演示文稿。

采用TSP技术，提供的吞吐量，适合自动测试
对于需要自动化和吞吐量级别的测试应用来说，2600B数字源表的TSP技术提供了业界性能。TSP技术远远超越传统的测试命令序列……它*嵌入，然后，在源测量单元（SMU）仪器内部执行完整的测试程序。这实际上避免了所 有耗时的总线-PC控制器之间的通信，因此，大幅缩短整个测试时间。
 

TSP技术将执行来自2600B系列数字源表内非易失性存储的完整测试程序。
通过TSP-Link技术，实现SMU-Per-Pin并行测试
TSP-Link是通道扩展总线，支持多 个2600B系列数字源表互连，成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作，支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是，2600B在无需主机成本或负担 情况下，实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统，还支持出众的灵活性， 可以根据测试需求的变化，迅速而容易 地对系统进行重新配置。

在TSP-Link系统中，所有通道的同步都控制在 500ns以内。
2400型软件仿真
2600B系列数字源表，与为吉时利2400 型数字源表源测量单元（SMU）仪表开发的测试代码兼容。这使得基于2400型数字源 表的测试系统更容易地升级至2600B系列， 并使测试速度提高高达80%。此外，它还提供了从SCPI编程转到吉时利TSP技术的过渡路径，实施后，可以进一步缩短测试时间。
为了全面支持遗留的测试系统，在这个模式下，还*支持2400型源存储清单测试序列。
第三代SMU设计，确保实现更快的测试时间
在早期2600系列仪器成熟的架构基础 上，2600B系列源测量单元（SMU） 仪表设计从几个方面提高了测试速度。例 如，早期的设计采用的是并联电流量程调 节结构，而2600 B系列采用了串联量程调节结构，这种结构具有更快 更平滑的量程变换过程和稳定速度更快的 输出。

SMU-Per-Pin并行测试采用TSP与TSP-Link技术，提高测试吞吐量，并降低测试成本。
2600B系列数字源表源测量单元 （SMU）仪表设计支持对各种负载使用 两种操作模式。在普通模式下，源测 量单元（SMU）仪表为大吞吐量提供 高带宽性能。在高电容模式下，源测 量单元（SMU）仪表使用较慢的带宽， 为较高电容负载提供鲁棒的性能。
简化半导体元件测试、验证与分析
可选配的ACS Basic版本软件实现了客户效率的，使客户可以在开发、质量认证或故障分析中，对封装器件进行特性分析。主要特性包括：
内容丰富、易于访问的测试库
脚本编辑器，实现现有测试的快速定制
数据工具，便于迅速比较测试结果
公式工具，便于分析俘获的曲线，并提供多种数据函数。
欲了解有关ACS Basic版本软件的更多信息，参见ACS Basic版本数据表。

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