2轴位移传感器200R

2轴位移传感器200R

高速运动分析

位移测量（x，y）

电光位移传感器200R型以非接触方式同时测量圆形或矩形目标在x和y方向上的快速运动。同样，可以在一个方向（y）上测量测量范围内样品上两个目标的差分运动。可以通过法兰将不同测量范围为1 mm至20 m的镜头安装到200R型上。x和y的模拟输出信号在0 – 200 kHz的频率范围内与目标的运动成比例。集成的查看器和液晶显示器简化了所需调整的性能；观看者还可以在进行测量时观察目标。

应变的双轴测量

为了在材料测试中非常快速地进行双轴应变测量，两个200R型并排安装以形成引伸计。可以通过玻璃窗对测试室中的样品进行测量。合适的照明器可以测量温度高达3000°C的样品。

角度测量（x，y）

通过将自动准直仪适配器和准直透镜安装在电光位移传感器200R上，可以在两个轴上测量前视镜的快速角运动。

200R的特点

测量范围：0.2 m – 10 m
测量距离：50 mm – 100 m
分辨率：大 0.01％
带宽：200 kHz

2轴位移传感器200R

引伸计概述

引伸计是一种在材料测试（例如拉伸测试）过程中测量材料样品应变的仪器。原则上，引伸计有两种类型：接触式和非接触式。接触测量可以通过夹式引伸计进行；这种仪器具有至少两个机械地连接到样本的边缘。拉伸样本会导致边缘之间的距离变长，这与样本长度的变化相对应。

对于非接触式测量，使用模拟或数字光学引伸计。为了测量材料样品上的应变，样品通常带有黑白标记。引伸计内的传感器检测标记的运动，从而检测拉伸试验期间长度的变化。有引伸计，即使材料样品温度非常高（高达3000°C），它们也能够测量非常快的应变（> 100 m / s）。

在拉伸试验中，非接触式测量装置是有利的。通常可以将它们设置在距样品一定距离的位置，以防止样品的飞散碎片损坏测量仪器。因此，光学引伸计也适用于破坏性材料测试期间的测量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各种类型的光学引伸计：

• 引伸计200XR可进行高达500 kHz的非常快速的测试
• CMOS线扫描传感器ZS64A5K每秒可实现1：64000和4673测量的高分辨率
• 线扫描传感器ZS16A分别是速度更快的版本ZS16AHS，可实现1：16000的高分辨率和高稳定性
• 引伸计ZS32和ZS32HS分别具有1：32000的分辨率