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X射线检测设备

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北京拓普升科技有限公司由技术扎实、经验丰富的电子&半导体工程师创立。立足于为客户提供稳定可靠的设备仪器、辅材及整体解决方案。

 

  我们代理销售Dek丝印机、ASM贴片机、Heller回流炉/固化炉、GE Phoenix X光机、Infra Tec红外热像仪、蔡司扫描电镜、Advantest ATE测试设备、ITC动态测试系统、Tesec静态测试系统、Analysis Tech热阻测试仪、泰克半导体参数测试系统和标乐切割研磨机等设备仪器。并代理Kyzen清洗剂、标乐研磨抛光布/液、伊顿、贺德克、派克等品牌过滤袋/芯及同品质国产替代品。

 

  我们也代理销售国产设备如奥普斯等离子处理设备、哈工大颗粒碰撞噪声(PIND)自动检测系统、效时BGA返修台/微组装键合机和德瑞茵推拉力机、北工大热阻测试仪等。

PIND测试设备,GE Phoenix X光机,奥普斯等离子设备,半导体参数测试设备

应用领域 地矿,电子

phoenix的micromeIx neo和nanomeIx neo系列产品将高分辨率的二维X射线技术和三维CT技术完美地集成于一套系统。多项*的创新设计,以及*的定位精度,使得这套系统成为科学研究、缺陷分析、过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
phoenix|x-ray x|act技术能够提供简便的基于CAD文件导入的微米级自动检测功能。特别受益于GE高动态响应和主动冷却特性的DXR平板探测器,使得系统可以实现高达30fps刷新率,提供了杰出的实时清晰影像和高速三维CT扫描性能。

 

• GE高动态响应的DXR数字探测器使得清晰实时检测影像成为可能
• 高功率180 kV / 20W微纳米射线管可穿透高吸收率的电子产品
• 高效自动的CAD检测程序使得系统设置时间小化
• 能够实现实时的CAD和检测结果匹配,即使在旋转及倾斜的检测视角
• *的缺陷覆盖率和重复性
• 细节分辨率,微米管0.5微米,纳米管0.2微米
• 可选配Flash! TM 图像优化技术
• 27寸显示器更容易辨别缺陷
• 可选配高分辨率的三维微/纳米级CT或者planarCT
• 可选配三维CT,10秒可完成扫描

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