日本hrd-thermal可视化热成像范围TSI
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- 公司名称 秋山科技(东莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2020/10/8 16:28:40
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 医疗卫生,食品,生物产业,冶金,制药 |
日本hrd-thermal可视化热成像范围TSI
可视化加热产生的空隙和裂缝
提高能源效率是节约能源的重要主题。着眼于电子设备的功耗问题,该设备可以通过可视化和量化设备内部的热特性来评估界面的热扩散率。此外,钻石和DLC的导热系数高,可以节省能源,但评估允许热量从其界面逸出的热扩散系数非常重要。此外,据说这些物质之间的界面的粘附性影响性能。该装置旨在评估热量对界面的附着力。
特征
- 激光加热功能
- 微距摄影光学系统(分辨率约20μm)
- 高性能红外热像仪(7.5μm至13.5μm)
- *的降噪技术
日本hrd-thermal可视化热成像范围TSI
主要规格
TSI-2 | ||
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基本表现 | 测量目标 | 样品缺陷,异质性,红外辐射亮度,简单的温度,热特性 |
输出数据 | 频率,距离,幅度,相位,亮度,图像数据 | |
分析模式 | 点/区域分析,相位分析 | |
附加其他 | 温度调制加热器,控制/分析软件,PC | |
测量环境 | 温度 | 室温〜250 [℃] |
测量频率 | 0.1-10 [Hz] | |
红外摄像机 | 元素数 | 336 x 256 |
元素类型 | VOx微测辐射热仪 | |
像素大小 | 17 [微米] | |
观察波段 | 7.5至13.5 [μm] | |
帧率 | 30 [Hz] | |
解析度 | 约30 [μm] | |
半导体激光器(连续振荡) | 波长 | 808 [纳米] |
大输出 | 5 [W] | |
正弦波调制 | 0.1至30 [Hz] | |
舞台动作范围 | 水平(XY轴)方向 | ±15 [毫米] |
垂直(Z轴)方向 | +50 [mm] | |
电源供应 | AC100-240 [V],10-5 [A],50/60 [Hz] | |
设备主体 | 外形尺寸 | 宽552 x深602 x高657 [mm] |
重量 | 76.5 [公斤] | |
激光安全标准 | CLASS1,IEC / EN 60825-1:2007 |
与常规无损检测设备的比较
TSI-2 | X射线探伤 | 超声波显微镜 | |
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得到什么对比? | ○导热系数的差异(可以进行前suo未有的观察) | ○X射线透过量 | ○超声波反射或速度差异 |
样品处理 | ◎不需要 | ◎不需要 | △需要淹没 |
解析度 | △约20μm | ◎1微米 | ○1μm(但是,与观察深度存在取舍关系) |
渗透 | △适合在地面附近观察。 | ◎高。可以使用CT方法。(金属很难穿透) | △根据频率而变化。分辨率也会改变。 |
观察范围 | ◎更换方便。广泛的支持 | △由于安全原因,观察范围受到限制。 | △安装在水箱中。需要扫描。观察范围是有限的。 |
观察时间 | ◎实时 | ◎实时 | △需要扫描 |