GL Spectis 8.0高灵敏度光谱分析仪

详细介绍

    GL Spectis 8.0高灵敏度光谱分析仪是一款*的集成光谱辐射仪，具有高灵敏度的背照式制冷Hamamatsu CCD成像传感器和革命性的低光学杂散光*方法，使光谱测量达到了xxx的更高水平。

     Spectis 8.0是市场上xxx使用革命性的OSR方法/降低光学杂散光* /的产品，可确保测试结果的高精度。与传统的实验室测量设备相比，GL SPECTIS 8.0与集成有背面减薄CCD图像传感器的高灵敏度光学系统相结合，具有许多其他优势。

功能

xxx的光子技术

GL SPECTIS 8.0光谱辐射仪的光学系统使用光谱学中可用的xxx解决方案。镜/光栅/镜光谱仪平台使用二氧化硅透射光栅和背面薄型CCD图像传感器。传感器和电子设备具有热稳定性，并且软件会不断监控基线水平。

透射光栅提供了xxx的透射性能和高扩散效率。这些特性允许设置非常短的积分时间，这对于高精度光源测量非常重要，并且可能是超快速生产过程控制应用中的关键因素。

背面薄型CCD Hamamatsu传感器在宽光谱范围内提供非常高的量子效率。这有助于在UV，VIS和NIR范围内实现更准确和低噪声的光测量。该平台的高光学分辨率使其成为工业应用中窄带光源测量和快速光测量的理想工具。

光度和辐射度校准

在交付之前，将xxx光谱校准集成到每个光谱仪中，从而能够准确测量不同的xxx值（例如勒克斯，坎德拉或流明）以及辐射度值，具体取决于安装的测量附件。

暗电流补偿

GL Spectis 8.0光谱仪可以在不同条件下提供非常准确的测量。电子板上安装的温度传感器监视温度变化，并自动补偿暗电流水平的任何变化，从而提供出色的测量稳定性。

操作简便

这款USB控制的光谱仪包括Peltier冷却的CCD Back-Thinned Hamamatsu传感器，该传感器与我们的GL Spectrosoft PC接口通信，允许用户触发测量并分析PC上的数据。

准确校准

我们高度重视校准程序和系统设计，以提高系统的准确性。每个光谱辐射仪都经过单独校准，并且在xxx光谱校准过程之前，执行三个预校准阶段：（1）波长校准，（2）非线性校正和（3）光学杂散光抑制*

高灵敏度

这种*的光评估系统使用二氧化硅透射光栅，可提供高分辨率，更高的通量和系统灵敏度。此外，传感器的冷却允许设置更长的积分时间以支持低信号电平测量。科学和实验室应用的xxx解决方案。

GL Spectis 8.0高灵敏度光谱分析仪使用方法

测量所有类型的光源

LED，荧光灯或LCD显示器等不同的光源需要不同的光学探头。GL SPECTIS 8.0可以与其他设备结合使用，以测量所有类型的光源，显示器以及LED灯。可以提供其他设备来满足各种测量要求。为了实现其仪器的非凡性能，GL Optic与专业的供应商合作，提供了可满足专业市场需求的解决方案。

专业的LED表征

Spectis 8.0光谱仪是用于实验室水平光评估的理想解决方案，可与我们的任何积分球和测角仪系统一起使用，以根据CIE 127：2007和CIE 025 / E：2015进行预先测量。高精度和高分辨率使其成为任何LED光测量需求的理想选择。

GL Spectis 8.0规格

*校准后的xxx测量不确定度。预期的不确定性对应于95％的覆盖概率，覆盖因子k = 2

**低于5 lx的测量可能需要定制以获得注明的规格。请与技术销售人员讨论。

注意：仪器，固件和软件规格如有更改，恕不另行通知。GL OPTIC数据表中包含的所有信息以及任何形式的产品信息均经过精心准备，并且其中包含被认为是真实的信息。请注意，由于文本和/或其他错误或可用技术的更改，可能会出现差异。我们建议在使用产品之前联系GL Optic，以获取xxx的产品规格。