XEM 吸附分析仪器

  XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

1. 外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作

2. 几何对称、精密设计的微量天平

3. 内部容积小化

4. 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

5. 宽动态称量范围（0-200毫克）

6. 操作压力高达200bar

7. 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

8. 无需重新归零或原位校准

9. 采用IGA*的终点预测方法

10. 全金属结构由高品质的VCR装配

11. 模块化设计，与所有配件兼容且可升级