镀层测厚仪XRF-2020性能特点

XRF-2020H型镀层测厚仪（测量样品高度12cm内）

XRF-2020L型镀层测厚仪（测量样品高度3cm内）

长宽均为55cm以内

检测电子电镀,五金电镀

LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层

1,可以测量多层膜中每一层的厚度

2,三维的厚度型貌

3,仪器全自动台面

4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台（常规高30与120mm)

5,自动雷射对焦，可实际多点自动测量.

6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。

镀层测厚仪XRF-2020性能特点如下图所示：

镀层测厚仪XRF-2020性能特点

韩国MicropioneerXRF-2020系列

1,可以测量多层膜中每一层的厚度

2,三维的厚度型貌

3,仪器全自动台面

4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台（常规高30与120mm)

5,自动雷射对焦，可实际多点自动测量.

6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。