z200 光伏组件隐裂EL检测仪

不同的隐裂，对电池片功能造成的影响是不一样的。先来看一张电池片的放大图。

　　图2：晶硅电池片结构

　　根据晶硅电池的结构，如上图，电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时，细栅线无法将收集的电流输送到主栅线，将会导致电池片部分甚至全部失效。

EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。光伏组件隐裂EL检测仪其检测原理如下。

　　电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。

　　如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。

　　当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。

小结

　　1）隐裂有多种，并不是所有的隐裂都会影响电池片的性能；

　　2）在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，还需在各工序段和搬运、施工过程中改进和细化作业流程，减小组件隐裂的可能性。

　　3）EL是简单有效的检测隐裂的方法。 

光伏组件隐裂EL检测仪配置清单