尼康电子元器件X射线检测站 XT V 130

 主要特点

 • 焦点尺寸为3微米的特制微焦点枪源 
• 16位色深高解析度图像与图像处理工具 
• 可以同时放置多块样品电路板的大型托盘 
• 大可达60°的倾斜角度观测 
• 旋转样品托盘（360°连续旋转）（选配）

大可到320倍对感兴趣观测区域放大 
大可倾斜60°的灵活观测可以发现立体连接处的问题

引进功能

 • 电子元器件*检测用X射线工作站 
• 不需要特别的编程技术的基于宏的自动化功能 
• 针对零件特性的合格与否自动判定，离线的可视化检测以及报告生成 
• 基于VBA可以让复杂的工序变得简单自动化 
• 多轴的方向操作杆让在线的导航更加直观 
• X射线开管式技术让维护成本更加低廉 
• 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 
• 占用空间小，重量轻，安装设置简单

用途

BGA缺陷检测 
• 电子零件、电路零件 
• 金线引脚连接故障点、球形虚焊点、金线弧度、芯片粘合、干接合、桥接/短路、内部气泡、BGA等等 
• 装配前/装配后PCB 
• 零件的位置偏差，焊缝空隙、桥接、表面装配等缺陷显示 
• 通孔镀层，多层排列详细检查 
• 晶圆片级芯片规模封装（WLCSP） 
• BGA以及CSP检测 
• 非铅焊锡检查 
• 微机电系统MEMS，微光机电系统MOEMS 
• 电缆，连接器，塑料件等等