Sn/Al，Sn/Cu，Sn/Fe，Sn/K 手持式光谱仪用镀锡厚度标准片
- 公司名称 上海益朗仪器有限公司
- 品牌 Calmetrics/美国
- 型号 Sn/Al，Sn/Cu，Sn/Fe，Sn/K
- 产地 美国
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2020/5/28 14:25:34
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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池 |
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手持式光谱仪用镀锡厚度标准片
手持式光谱仪用镀锡厚度标准片是通过溅射或电镀方法将高纯度锡沉积在基材上。是用于校准便携式手持XRF设备，以测量基材上镀锡的产品。手持式光谱仪用厚度标准片是坚固不易弯曲的材料，安装在带有十字线的阳极氧化铝板上，以方便手持XRF仪器的定位和校准。
铝上镀锡厚度标准片 Sn/Al (Tin/Aluminum) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Sn/Al，理论厚度：2微英寸（0.05微米）
Sn/Al，理论厚度：4微英寸（0.1微米）
Sn/Al，理论厚度：10微英寸（0.25微米）
Sn/Al，理论厚度：20微英寸（0.5微米）
Sn/Al，理论厚度：80微英寸（2微米）
Sn/Al，理论厚度：120微英寸（3微米）
Sn/Al，理论厚度：200微英寸（5微米）
Sn/Al，理论厚度：450微英寸（11.25微米）
Sn/Al，理论厚度：600微英寸（15微米）
Sn/Al，理论厚度：800微英寸（20微米）
铜上镀锡厚度标准片 Sn/Cu (Tin/Copper) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Sn/Cu，理论厚度：4微英寸（0.1微米）
Sn/Cu，理论厚度：10微英寸（0.25微米）
Sn/Cu，理论厚度：20微英寸（0.5微米）
Sn/Cu，理论厚度：40微英寸（1微米）
Sn/Cu，理论厚度：80微英寸（2微米）
Sn/Cu，理论厚度：150微英寸（3.75微米）
Sn/Cu，理论厚度：200微英寸（5微米）
Sn/Cu，理论厚度：300微英寸（7.5微米）
Sn/Cu，理论厚度：400微英寸（10微米）
Sn/Cu，理论厚度：500微英寸（12.5微米）
Sn/Cu，理论厚度：600微英寸（15微米）
Sn/Cu，理论厚度：800微英寸（20微米）
Sn/Cu，理论厚度：1000微英寸（25微米）
Sn/Cu，理论厚度：1200微英寸（30微米）
Sn/Cu，理论厚度：2000微英寸（50微米）
铁上镀锡厚度标准片 Sn/Fe (Tin/Iron) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Sn/Fe，理论厚度：40微英寸（1微米）
Sn/Fe，理论厚度：200微英寸（5微米）
Sn/Fe，理论厚度：450微英寸（11.25微米）
Sn/Fe，理论厚度：650微英寸（16.25微米）
Sn/Fe，理论厚度：800微英寸（20微米）
Sn/Fe，理论厚度：1400微英寸（35微米）
Sn/Fe，理论厚度：1800微英寸（45微米）
可伐上镀锡厚度标准片 Sn/Kov (Tin/Kover) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Sn/Kov，理论厚度：30微英寸（0.75微米）
Sn/Kov，理论厚度：60微英寸（1.5微米）
Sn/Kov，理论厚度：100微英寸（2.5微米）
Sn/Kov，理论厚度：120微英寸（3微米）
Sn/Kov，理论厚度：200微英寸（5微米）
Sn/Kov，理论厚度：600微英寸（15微米）
Sn/Kov，理论厚度：1000微英寸（25微米）
Sn/Kov，理论厚度：1800微英寸（45微米）
以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，请联系上海益朗仪器有限公司。
注：本页标准片仅用于手持式光谱仪。
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