MCPD 多通道光谱仪
- 公司名称 大塚电子（苏州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型号 MCPD
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2020/6/12 16:16:03
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| 按探测器 | CCD | 分辨率 | 0.1nmnm |
|---|---|---|---|
| 光谱范围 | 紫外,220nm~1600nmnm | 光谱范围 | 紫外,220nm~1600nmnm |
| 价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,电子,印刷包装,电气 |
| 杂散光 | 1.8E^-5(450~550nm) |
多通道光谱仪MCPD系列
膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列
（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）
提供丰富选配套件以及客制化光纤，
可依据安装现场需求评估设计，是一套可灵活架设于各种环境下的即时测量系统
分光光谱仪种类
MCPD-9800：高动态范围分光
MCPD-6800：紫外/可见/近红外光分光光谱仪
MCPD-7700：高感度分光
膜厚测量
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包裝膜
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膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜
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LB膜测量
蒸馏膜测量
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多点膜厚测量
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）
树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜
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采购中心
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