Talos F200X STEM透射电镜

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射电镜提供快速、准确的纳米材料多尺度表征，配备多种创新功能以提高效率、精度与易用性，是学术、政府和工业等领域进行高级研究与分析的理想选择。

高分辨率成像，获取更高质量的数据
Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、能谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分面分析的三维化学表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制软件通过智能扫描引擎、基于多个 STEM 探测器的多通道合并技术以及差分相位衬度 (DPC) 成像技术，显著改善了 S/TEM 成像质量，可以更好地分析电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理和定量分析。

X-FEG 高亮度电子枪可以在提供高达标准肖特基场发射电子枪五倍亮度的同时保持较小的会聚角。用户可以获取高信噪比以及 STEM、EDS 图像分辨率和更多高分辨 TEM 应用。X-FEG 高亮度电子枪所具有的高稳定性及使用寿命很长等特点，使其具有更高的成像效率。

视野更大，速度更快

Talos 快速 D/TEM 成像支持高分辨率以及原位动态成像。 Thermo Scientific Ceta 16M TM 相机的视场范围更大，图像采集分辨率可高达每秒 25 帧，同时，压电样品台可确保高灵敏度、无漂移成像和样品导航，从而节约时间并允许用户采集更多样品数据。

加快纳米尺度分析以更快获取答案

Talos F200X S/TEM 采用赛默飞 Super-XTM 集成 EDS 系统，配备四个硅漂移 X 射线探测器，具有*灵敏度，每秒可收集高达 105 幅能谱。X-TWIN 物镜集成，大限度地提高了 X 射线收集效率，同时达到给定束流(甚至是低强度 EDS 信号)下的理想输出计数率。

更轻松地开展研究
Talos S/TEM 采用友好的数字用户界面和人体工程学设计，允许多名科学家访问成像和分析工作流程。快速图像采集与简单易用的操作平台相结合，即使是经验不足的操作者也能够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性、舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，Talos S/TEM 配备了新型设备状态记录和诊断软件，以便收集重要的仪器参数，便于远程诊断和支持。

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射电镜参数：

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV)
总电子束电流     > 50 nA
探针电流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)
Super-X EDS 系统    采用对称设计的 SDD 能谱探头，无窗设计，遮板保护
能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(输出)
快速 EDS 面分析    像素驻留时间短至 10 μs
STEM HAADF 分辨率  0.16 nm
EDX 立体角 0.9 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
大衍射角度 24 ?
双倾样品杆的大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角
样品台大倾斜角度 ±90