PG70ABDL PG70ABDL超声波测厚仪

PG70ABDL超声波测厚仪的屏幕可以选择为0.01mm或0.001mm 0.001 / 0.0001英寸的分辨率，并可以用于显示A型和B型扫描的厚度值，以便用户可以准确地评估各种材料。

仪器的自动搜索功能可以找到监视点并调整显示设置以显示波形。

高速扫描功能仪器的速度加快了检测过程，每秒达到32次测量。

将传感器从要测量的材料中取出，显示屏将显示小测量值。 

用户可以设置上限和下限，以通过视觉和听觉检测特定的应用偏差警报。 

PG70ABDL超声波测厚仪功能：

0.001mm高度分辨率

显示模式范围：A扫描，B扫描，脉冲回波，回波-echo 

可调增益：-30dB至70dB 

自动增益控制AGC 

用户定义的设置

多语言显示

多种校准和材料选择选项

高速扫描：每秒32个读数

差异模式

小厚度报警模式

数据存储功能：12,000个读数和波形

可下载到数据管理软件  ## PG70ABDL功能介绍

可重复性/稳定性指示器

Elcometer系列具有6个垂直条信号。当所有垂直条都亮并且数字测厚仪的后一位数字稳定时，仪器可以获得可靠的测量结果。 

高速扫描显示屏显示小厚度

通过快速提高测量数据的刷新率，该模式允许用户扫描被测材料。

仪器将自动保存小厚度值并在扫描后显示。

根据产品型号，此模式也可以与极限报警模式一起使用。 

差异模式

一旦设置了用户定义的名义厚度值，仪器将显示带有+/-号的输入标称值的厚度差。 

极限报警模式

用户可以定义小和大厚度限制。

如果测量值超过上限或下限，红色LED会亮起，并且蜂鸣器会鸣响。

绿色LED亮起以表示可接受的厚度。 

V形路径校正模式

双晶传感器由一个带有两个晶体的探头组成，一个发射和接收声脉冲。

晶体被噪声屏障隔开，声音从一个晶体传播到另一个晶体，形成V形路径。

由于时间/厚度关系是非线性的，因此使用V路径校正模式来补偿此误差。 

PG70ABDL测量模式简介 

脉冲回波模式PE：

标准显示模式，用于测量从传感器探头底部到材料密度边界的背面总厚度。

适用于检测凹坑和缺陷。

ThruPaint™模式，可以忽略涂层的厚度，显示从表面到材料密度边界的直接厚度。

比PE模式更准确。 IE模式显示从表面层到材料密度边界的总厚度，即可以忽略偶联剂的厚度。

接口回波模式 

PG70ABDL显示模式

材料厚度的数字显示模式：

所有模型的标准显示模式，以毫米或英寸为单位，使用数字显示厚度值。 

扫描条显示模式：

线性图形显示模式允许用户以图形方式监视厚度读数的变化。

因为用户可以调整度数范围，所以此显示模式非常适合观察材料厚度的微小变化。 

B扫描显示模式：

坐标显示，纵坐标表示探头的扫描轨迹，横坐标表示超声波的传播时间。材料的厚度以图形方式显示，非常适合进行深度比较分析。 

A扫描显示模式---全波RF：

A扫描显示被测材料的反射声或正弦波。

RF模式显示全波。 

A扫描显示模式---半波正/负波形：

用户可以选择浏览整个波形RF的正或负波形。

此半波RECT模式显示整个过程的振幅。