ZK-TS-150L 高低温冷热冲击试验箱

高低温冷热冲击试验箱用途介绍

设备是通过高温储能槽与低温储能槽快速温度转换来实现对半导体、5纳米芯片、动力电池、电路主板、石墨烯屏幕、华为手机屏，iPhone触摸屏、watch在*温和极低温的环境中进行冷热交替膨胀和收缩试验，使产品中产生高温变应力和应变来发现潜存于产品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵提前曝露。避免产品在使用过程中受到环境应力的考验时而导致失效，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显著效果。

设备编程测试程序

1.CJ602S3I

(1)高温暴125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。

(2)高温150℃暴露30min，环境温度5min，低温-55℃暴露30min。

2.CJ602SII

(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。

(2)高温暴露 150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min。

(3)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。

3.CJ603S3I

(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。

(2)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。

4.CJ603S3II

(1)高温暴露125℃，低温暴露-40℃，暴露时间均30min。

(2)高温暴露150℃，低温暴露-55℃，暴露时间均30min。

(3)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。

5.CJ605S3I

(1)高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min。

(2)高温150℃暴露30min，环境温度5 min，低温-55℃暴露30min。

6.CJ605S3II

(1)高温150℃暴露30min，低温- 55℃暴露30min。

(2)高温125℃暴露，低温-40℃暴露，暴露时间均30min。

(3)高温125℃暴露30min，环境温度暴露5 min，低温-55℃暴露30min。

高低温冷热冲击试验箱满足测试标准及条件

1.GB/T2423.1-2001低温试验方法。

2.QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则。

3.满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。

4.SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式。

5.SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式。

6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989温度变化试验N。

7.GJB360.7-87温度冲击试验；GJB367.2-87 405温度冲击试验。

8.GJB150.3-86；GJB150.4-86；GJB150.5-86；GJB150.5-86温度冲击试验。

9.EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

10.GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；GB/T 2423.22-2002温度变化。

11.设备的型号和规格选择如下：

    型 号                  内箱尺寸（mm）                外箱尺寸（mm）

ZK-TS -80L       W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-120L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-150L      W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-225L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-408L      W600×H850×D800            W900×H1980×D1550

ZK-TS-800L      W800×H1000×D1000         W1100×H2150×D1650

ZK-TS-1000L    W1000×H1000×D1000       W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非标定制......